产品系列

技术原理

主要功能

典型应用场景

‌MCPD系列分光光谱仪‌

高速多通道分光技术，CCD/InGaAs传感器阵列

测量发光光谱、反射率、透射率、色度、膜厚、双折射相位差

OLED/LCD面板光学特性评价、LED光源色度检测、光学薄膜质量控制

‌OPTM系列显微分光膜厚仪‌

多点联立反演算法 + 微区光斑干涉

实现<100nm薄膜厚的精度测量，解决d-n-k耦合难题

半导体晶圆薄膜、光刻胶、OLED发光层、电池电极涂层的在线检测

‌DLS-8000动态光散射仪‌

动态光散射（DLS）

测量纳米颗粒粒径分布（0.6 nm – 10 μm），支持浓溶液（≤40%）

纳米载体、胶体稳定性分析、高分子聚合物分子量评估

‌ELSZneo Zeta电位及粒径分析仪‌

电泳光散射（ELS）+ 多角度DLS

同步测量粒径、Zeta电位、分子量、微流变特性，支持高盐环境

制剂稳定性、脂质体、颗粒、表面改性材料的电荷特性分析

‌PP-1000小角激光散射仪‌

可见光小角散射（SALS）

原位分析聚合物结晶、相分离、球晶尺寸（0.33°–45°）

高分子材料研发、热固性工艺监控、拉伸/紫外固化过程结构演化

‌nanoSAQLA多样品纳米颗粒测量系统‌

非接触式DLS，多通道并行

一次性连续测量*多5个样品，无需自动进样器

高通量筛选、材料研发实验室的批量样品分析

‌RETS-100nx相位差测量仪‌

多波长透射光谱干涉

宽范围（0–60,000 nm）相位差测量，支持多层堆叠膜非破坏检测

OLED偏光板、IPS液晶位相差膜、复合光学膜的三维折射率解析