FT-3120B半自动四探针电阻率测试仪,
设备操作模式区分:采用直流四探针检测方式,区别纯手动下压机型、全自动 XY 走点探针台;样品由人工摆放移位定位测点,Z 轴探头电动自动升降下压,探针压力、下压行程可设定,弱化人工施压差异带来的数据波动。
恒流采集配置:搭载步进驱动系统实现探针恒压接触,设备可自动切换正向、反向电流并同步采集双向电压,可测算方块电阻、体积电阻率、电导率、薄膜厚度;配套压力检测组件,探针压力调节区间 100-500g,匹配通用检测规范。
自动化测试流程:支持单点定位检测、手动切换多点面电阻检测两种工况,手动测试一键下压、检测完成自动抬升;搭配荷载块维持探针稳定接触,设置 Z 轴机械限位、软限位、过流、探头短路、时抬升多重防护,规避薄膜划伤问题。
数据与校准配套:配套 PC 程序完成数据存储、统计、导出、报表生成;可搭配标准校准电阻片完成整机数值校验,适配通用材料电学检测规范。
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FT-3120B半自动四探针电阻率测试仪,
设备操作模式区分:采用直流四探针检测方式,区别纯手动下压机型、全自动 XY 走点探针台;样品由人工摆放移位定位测点,Z 轴探头电动自动升降下压,探针压力、下压行程可设定,弱化人工施压差异带来的数据波动。
恒流采集配置:搭载步进驱动系统实现探针恒压接触,设备可自动切换正向、反向电流并同步采集双向电压,可测算方块电阻、体积电阻率、电导率、薄膜厚度;配套压力检测组件,探针压力调节区间 100-500g,匹配通用检测规范。
自动化测试流程:支持单点定位检测、手动切换多点面电阻检测两种工况,手动测试一键下压、检测完成自动抬升;搭配荷载块维持探针稳定接触,设置 Z 轴机械限位、软限位、过流、探头短路、时抬升多重防护,规避薄膜划伤问题。
数据与校准配套:配套 PC 程序完成数据存储、统计、导出、报表生成;可搭配标准校准电阻片完成整机数值校验,适配通用材料电学检测规范。