现场无损薄膜检测方案上新，高斯摩国贸供应大塚电子 SM-110PO 手持式膜厚仪

高斯摩国际贸易（成都）有限公司供应日本 OTSUKA 大塚电子 SM-110PO 手持式膜厚仪供货资源，面向光学元件制造、新材料涂层、半导体研发、车载光学、高分子薄膜加工领域，提供非接触、非破坏性薄膜厚度检测设备，健全光学理化检测仪器产品线，为样品现场抽检、产线巡检、新品开发测试提供灵活的膜厚测量方案。

一、设备测量原理与基础规格

SM-110PO 依托反射分光法（光学干涉法）完成薄膜厚度测算。光源发出光线照射样品表面，一部分光线在薄膜表层反射，另一部分穿透薄膜后在基底界面反射；两组反射光形成干涉光谱，仪器通过解析光谱信息，结合材料折射率运算，直接输出薄膜厚度数值。该机型测量区间覆盖 0.1~100μm 单层薄膜、1~100μm 多层薄膜，单点测量耗时控制在 1 秒以内。整机采用轻量化手持一体化设计，主机重量约 1.1kg，无需固定实验平台，便于工作人员携带至产线、外协厂区、成型工位开展现场检测。测量光斑直径小于 1mm，可应对小型工件、局部涂层区域采样。设备兼容玻璃、硅片、各类塑料等多种非金属基材，无需提前制作标准检量曲线，直接获取厚度*值。

二、设备运行核心特性

相较于台式膜厚检测设备，SM-110PO *特点是打破检测场地约束。面对大型工件、成型立体构件、不可切割拆分的成品样品，无需取样，直接原位测量，规避取样切割带来的样品损耗与测试偏差。同时属于非接触式检测方案，探头不触碰涂层表面，软质膜、易划伤镀膜样品测量过程不会产生损伤。机身搭载触控显示屏，实时展示厚度数据与反射光谱曲线，测量记录自动保存，可通过 USB 接口导出数据生成报表，方便品质追溯。系统支持录入不同材质折射率参数，适配增透膜、硬化涂层、脱模剂涂层、防水薄膜等多种工艺膜层。设备操作流程简单，经过基础培训的工作人员即可独立完成测试，降低现场检测门槛。区别于涡流、磁感应膜厚仪，该设备不受基材导电属性限制，大量非金属涂层工况下均可稳定使用，拓宽现场质检适用范围。

三、主流行业应用场景

光学行业：镜头 AR 增透膜、玻璃硬化涂层、光学镜片镀膜厚度抽检；

车载产品：车窗隔热涂层、车载镜头防护膜、零部件防污涂层检测；

半导体与新材料：晶圆表层各类有机涂层、高分子功能性薄膜测试；

薄膜及塑胶产业：挤出成型薄膜、工件表面喷涂涂层均匀性巡检；

研发实验室：新品涂层配方试制，快速比对不同工艺条件下膜层差异。

需要注意，设备适配透光型薄膜体系；不透光金属膜层，需要提前评估工况，匹配对应的检测方案。

四、配套供货与技术服务

依托稳定的进口仪器采购渠道，公司提供 SM-110PO 整机、检测探头、配套校准片一体化订货服务。技术人员可以根据薄膜材质、目标厚度范围、工件外形尺寸，评估设备适配性，提供测量操作参考方案。订单交付后，同步提供设备摆放、日常校准、探头养护相关建议，引导使用者定期开展校验，维持长期数据稳定。

随着涂层工艺管控标准持续提升，企业对于现场快速无损检测设备需求持续增长。离线实验室取样方式，难以及时反馈产线波动。本次引入大塚电子 SM-110PO 手持式膜厚仪，补齐便携式薄膜检测设备品类，与台式分光设备、光谱分析仪器形成互补。后续，公司持续拓展 OTSUKA 大塚全系光学检测仪器货源，面向客户供应原装光学测量设备，助力制造企业完善涂层制程品质管控流程。