池田屋分享Otsuka大塚ZETA电位纳米粒子径测试系统nanoSAQLA
    近期我司推出Otsuka大塚ZETA电位纳米粒子径测试系统nanoSAQLA
    nanoSAQLA是日本大冢电子推出的多样品纳米粒子径测试系统，基于动态光散射DLS检测原理，专为批量样品、宽浓度区间、无交叉污染的纳米粒径检测场景设计。设备主打小型轻量化机身与高通量检测能力，无需配套复杂前处理设备，可适配科研研发配方筛选、新材料工艺优化、企业常态化品质管控等场景，广泛应用新能源、纳米粉体、高分子乳液、生物医药、涂料油墨等多个行业，是实验室高效粒度表征的常用设备。
    设备采用全新光学检测架构与非浸入式检测设计，规避传统浸入式探头带来的样品交叉污染问题，无需频繁清洗检测探头，大幅简化试验操作流程，适配多批次、多样品连续检测作业。仪器标准单样品检测时长约一分钟，检测效率稳定，支持*多五组样品不间断连续测试，可独立设置每组样品的测试参数，满足差异化试验需求，有效提升批量样品筛查效率，适配研发阶段大量配方对比试验与产线常规抽检工作。
    在检测性能方面，设备粒径检测区间为0.6nm～10μm，覆盖纳米级粉体、胶体乳液、微悬浮颗粒等绝大多数常见样品规格。设备具备良好的浓度适配性，可直接检测0.00001%至40%浓度区间的样品，从极低浓度稀释液到高固含浆料均可直接上机测试，无需人工稀释预处理，规避稀释操作改变样品原始分散状态、影响检测数据的问题，保障测试结果贴合样品实际工况。
    整机搭载高精度温控系统，温控区间0～90℃，温控精度可达0.1℃，支持程序化温度梯度测试。可模拟不同温度环境，监测胶体分散体系、温敏材料、蛋白溶液的粒径变化趋势，捕捉材料相变、高温团聚、热稳定性变化等关键特性，为温敏材料研发、产品耐温性能评估、工艺温度参数优化提供可靠的数据支撑。设备适配水性、油性等多种溶剂体系样品，通用性较强，可满足多品类样品检测需求。
   特点
1台便可实再5个样品的连续测量
实现了在没有自动取样器的情况下难以连续测量的多个样品
可以改变每个样品的条件进行测量
可以对应从稀薄到浓厚的样品
标准测量时间1分的高度测量
自动调整从浓厚系到稀薄系样品的*测量位置，实现约1分钟的高速测量
配备简单测量功能(点击一键即可开始测量)
没有任何复杂的操作，简单易懂的软件
因为每个样品槽都是独立的，没有接触污染的风险。
搭载温度梯度功能
测量范围（理论值）
粒径0.6nm～10μm
浓度范围 0.00001～40％
温度范围0～90℃*
 设备支持拓展AS50自动进样器，升级后可实现*多50组样品全自动连续检测，进一步释放人力，适配大批量样品常态化检测场景。整机操作简洁，搭载一键测试功能，操作人员简单设定参数即可自动完成信号采集、数据运算、粒径分布分析与报告输出，检测数据重复性良好，降低人工操作带来的误差，适配不同层级操作人员使用。同时设备采用Class1安全激光设计，符合国际安全标准，使用过程安全可靠。
    行业应用层面，新能源行业可用于锂电导电剂、电极浆料、纳米涂层材料的粒径与分散性管控，保障浆料涂布均匀性与产品一致性；新材料行业适配纳米二氧化硅、氧化铝、石墨烯等粉体材料的粒径检测，验证球磨、分散工艺效果；生物医药行业可用于蛋白溶液、脂质体、纳米载药体系的粒径稳定性监测；涂料油墨、高分子化工行业，可管控乳液、浆料的颗粒均匀度，优化配方体系，改善产品沉降、分层等问题。
    整体而言，nanoSAQLA凭借多样品高通量检测、无交叉污染、宽浓度适配、温控功能完备、操作便捷等特点，兼顾科研研发深度测试与工业批量质控需求，设备稳定性与适配性良好，能够有效提升实验室检测效率，减少试验耗材与人工成本，是纳米颗粒分散体系常规粒径表征的*设备。