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SANKO山高SWT-NEO-FN薄膜厚度计

价格

￥6,947.00

型号

SWT-NEO-FN

品牌

SANKO山高

所在地

暂无

更新时间

2026-10-10 17:17:37

浏览次数

次

产品简介

SWT-NEO-FN

产品描述

测量范围

铁基体：0-3.00 毫米；
非铁基体：0-2.50 毫米

显示方法

LCD数字显示屏，显示保持

显示分辨率

1μm：可切换范围为0至999μm
；0.1μm：0至400μm
；0.5μm：400至500μm；
0.01mm：铁基板（1.00至3.00mm）；
非铁基板（1.00至2.50mm）

测量精度

对于均匀表面：0–100 μm：±1 μm（适用于铁质和非铁质材料）
或在值的±2%以内
；101 μm–3.00 mm：
在±2%以内（铁质基底）；101 μm–2.50 mm：在±2%以内（非铁质基底）。

校准曲线记忆

黑色金属和有色金属各一份。

电源

2节AA碱性电池（1.5V）连续使用时间（25小时*）
交流适配器（可选）
，带自动关机功能
**值（可能因使用情况而异。）

工作温度

0-40°C（无冷凝）

尺寸

72（宽）×30（高）×156（深）毫米

重量

约200克（含电池）

配件

标准厚度平板、零点测试平板、干电池、收纳箱、手带、保修卡/用户登记表、使用说明书

探测

单点恒压接触式，V形切口，φ15 x 50.9mm

此外，还有高性能的 SWT-NEOⅡ 型号，具有内存和统计功能等特性。

以上信息由企业自行提供，信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责，仪器仪表交易网对此不承担任何保证责任。
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