二、核心专属优势

1. 纳秒级极速脉冲同步，高速线扫无拖影

• 开启响应 1μs、关断仅 500ns，*支持 200KHz 高频频闪
• 可单条线内同步完成反射 + 透射双模式成像，一套光源采集两组缺陷图像
• *匹配高速卷对卷产线，消除运动拖影、模糊、重影问题

2. 无风扇自然风冷，无尘车间

3. 5 点分段线性调光，全域照度均匀

4. 长模块化发光长度，适配大宽幅工件

5. 全光谱覆盖，多缺陷分层检测

• W 白光：通用划痕、颗粒、脏污外观检测
• RGB：塑胶 / 油墨色差分选、彩色分层成像
• UV365/385：荧光杂质、光刻残留、油污隐形污染检测
• NIR860/950：硅片内部隐裂、薄膜夹层异物穿透探伤
  UV 款搭载抗 UV 扩散透镜，长期使用不发黄衰减。

6. 多通讯自动化联动，远程高速调光

7. 长使用寿命，低运维成本

三、标准硬件规格参数

1. 发光长度：240~3960mm，120mm 步进增量
2. 整机尺寸：(发光长度 + 113)×136.3×60mm（不含出线接头）
3. 重量：约 10kg/m
4. 峰值功耗：375W/m
5. 调光范围：稳定输出区间 10%~*，5 点线性校正
6. 脉冲性能：上升 1μs、下降 500ns，* 200KHz 频闪
7. 散热方式：铝合金自然风冷，无风扇
8. 通讯：以太网 RJ45；配套控制器拓展 RS232、0-5V、IO 触发
9. 线缆规格：标准电缆*长 50m，脉冲工况≤20m
10. 使用环境：5~30℃，20~80% RH 无凝露；存储 0~60℃
11. LED 寿命：50000h（光衰 70%）
12. 整机：CE、RoHS 工业安全标准

四、主流细分型号分类

1. 白光通用款（SPX-TA200-LN-XXX-W）

2. RGB 彩色款（R/G/B 单波段独立型号）

3. 紫外荧光款（SPX-TA200-LN-XXX-UV365/UV385）

4. 近红外穿透款（SPX-TA200-LN-XXX-NIR860/NIR950）

五、典型应用场景

1. TFT/OLED 液晶玻璃宽幅线扫 AOI
   长发光面全覆盖整片基板，同步反射 + 透射检测划痕、微颗粒、镀膜色差、隐形荧光残留；无风扇适配无尘产线。
2. 锂电池隔膜 / 铝塑膜卷对卷高速检测
   高速脉冲消除卷材运动拖影，识别薄膜针孔、涂层杂质、褶皱、涂层厚薄不均。
3. 大尺寸 PCB、铜箔卷材外观检测
   白光识别线路划痕、异物，紫外波段检测阻焊油污、指纹残留。
4. 半导体硅片、载板宽幅流水线检测
   近红外型号穿透硅材识别内部隐裂，紫外检测光刻胶残留污染。
5. 光学薄膜、偏光片精密缺陷检测
   线性调光适配高低反光膜材，分层识别雾度、划伤、镀膜不均。
6. 光学实验室宽幅透光 / 反射率
   以太网远程自动切换多组亮度、频闪参数，无人值守光谱测试。