Chroma 3380 VLSI测试系统具有*1280 I/O pins、256 VI、弹性化架构、以及完整选项功能板等特色；可符合高同测的市场驱势，具备1024 I/O pin可同测1024个晶片的能力。除了的4-wire高密度IC电源外，弹性化可调整的架构还可提供Mini & Macro LED驱动IC、CMOS影像感测器(CIS)、及3D影像测试等解决方案；以利涵盖更广泛的IC测试功能与应用范围。Chroma 3380 VLSI测试系统可无缝接轨3380D(256pins)与3380P(512pins)，以因应更高的产能需求。3380系列VLSI测试系统无论在装机、稳定度、友善使用介面、及成本效益上，长期以来皆已于市场获得广泛印证。

 主要特色：
1.50/100 MHz 测试频率
2.50/100 Mbps data rate
3.1024 I/O pins(* 1280 I/O pins)
4.平行测试可达1024 sites
5.32/64/128 pattern 记忆体
6.16M capture memory per pin
7.多样化VI电源
8.弹性化硬体架构(可互换式I/O, VI, ADDA)
9.Real parallel trim/match功能
10.时序频率测试单位
11.高速时序测试单位
12.支援STDF工具
13.测试program/pattern转换器(J750, D10, S50/100, E320, SC312,V7, TRI-6036等)
14.AD/DA功能卡(选配)
15.SCAN测试功能(*2G M/chain)(选配)
16.ALPG测试功能可供记忆体IC用(选配)
17.CRAFT C/C++程式语言
18.软体介面与3380P/3360P相同
19.人性化的Windows7作业环境