涂层测厚仪

价格
电议

型号
4100涂层测厚仪

品牌
德国EPK

所在地
暂无

更新时间
2019-11-22 16:39:13

浏览次数

    德国EPK(Elektrophysik)公司

    EPK4100涂层测厚仪特点:

      MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能;
      所有型号均可配所有探头;
      可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机;
      可使用一片或二片标准箔校准。

    EPK4100涂层测厚仪技术特征:

    型号1100210031004100
    MINITEST 存储的数据量
    应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数)111099
    每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计计算,并可设宽容度极限值)1500
    可用各自的日期和时间标识特性的组数1
    数据量100001000010000
    MINITEST统计计算功能
    读数的六种统计值xsnmaxminkvar
    读数的八种统计值xsnmaxminkvarCpCpk
    组统计值六种xsnmaxminkvar
    组统计值八种xsnmaxminkvarCpCpk
    存储显示每一个应用行下的所有组内数据
    分组打印以上显示和存储的数据和统计值
    显示并打印测量值、打印的日期和时间
    其他功能
    设置极限值
    连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别大小值
    连续测量模式中测量稳定后显示读数
    连续测量模式中显示小值

    EPK4100涂层测厚仪可选探头参数:

      所有探头都可配合任一主机使用。在选择适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的
    形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
      F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层
      N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层
      FN两用探头:同时具备F型和N性探头的功能

    探头

    量程

    低端
    分辨率

    误差

    小曲率半径
    (凸/凹)

    小测量
    区域直径

    小基
    体厚度

    探头尺寸




    F05

    0-500μm

    0.1μm

    ±(1%±0.7μm)

    1/5mm

    3mm

    0.2mm

    φ15x62mm

    F1.6

    0-1600μm

    0.1μm

    ±(1%±1μm)

    1.5/10mm

    5mm

    0.5mm

    φ15x62mm

    F1.6/90

    0-1600μm

    0.1μm

    ±(1%±1μm)

    平面/6mm

    5mm

    0.5mm

    φ8x8x170mm

    F2/90

    0-2000μm

    0.2μm

    ±(1%±1μm)

    平面/6mm

    5mm

    0.5mm

    φ8x8x170mm

    F3

    0-3000μm

    0.2μm

    ±(1%±1μm)

    1.5/10mm

    5mm

    0.5mm

    φ15x62mm

    F10

    0-10mm

    5μm

    ±(1%±10μm)

    5/16mm

    20mm

    1mm

    φ25x46mm

    F20

    0-20mm

    10μm

    ±(1%±10μm)

    10/30mm

    40mm

    2mm

    φ40x66mm

    F50

    0-50mm

    10μm

    ±(3%±50μm)

    50/200mm

    300mm

    2mm

    φ45x70mm


    FN1.6

    0-1600μm

    0.1μm

    ±(1%±1μm)

    1.5/10mm

    5mm

    F0.5mm/N50μm

    φ15x62mm

    FN1.6P

    0-1600μm

    0.1μm

    ±(1%±1μm)

    平面

    30mm

    F0.5mm/N50μm

    φ21x89mm

    FN2

    0-2000μm

    0.2μm

    ±(1%±1μm)

    1.5/10mm

    5mm

    F0.5mm/N50μm

    φ15x62mm




    N02

    0-200μm

    0.1μm

    ±(1%±0.5μm)

    1/10mm

    2mm

    50μm

    φ16x70mm

    N.08Cr

    0-80μm

    0.1μm

    ±(1%±1μm)

    2.5mm

    2mm

    100μm

    φ15x62mm

    N1.6

    0-1600μm

    0.1μm

    ±(1%±1μm)

    1.5/10mm

    2mm

    50μm

    φ15x62mm

    N1.6/90

    0-1600μm

    0.1μm

    ±(1%±1μm)

    平面/10mm

    5mm

    50μm

    φ13x13x170mm

    N2

    0-2000μm

    0.2μm

    ±(1%±1μm)

    1.5/10mm

    5mm

    50μm

    φ15x62mm

    N2/90

    0-2000μm

    0.2μm

    ±(1%±1μm)

    平面/10mm

    5mm

    50μm

    φ13x13x170mm

    N10

    0-10mm

    10μm

    ±(1%±25μm)

    25/100mm

    50mm

    50μm

    φ60x50mm

    N20

    0-20mm

    10μm

    ±(1%±50μm)

    25/100mm

    70mm

    50μm

    φ65x75mm

    N100

    0-100mm

    100μm

    ±(1%±0.3mm)

    100mm/平面

    200mm

    50μm

    φ126x155mm

    CN02

    10-200μm

    0.2μm

    ±(1%±1μm)

    平面

    7mm

    无限制

    φ17x80mm

      F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头,用于管内测量。
      N.08Cr适合铜上铬,FN2也适合铜上铬。
      CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。

    EPK4100涂层测厚仪探头

    FN1.6
    0~1600μmφ5mm
    两用测头,可测铜铁基体上的非磁性覆层与有色金属 基体上的绝缘覆层
    量程低端分辨率很高(O.1μm)
    FN1.6P
    0~1600μmφ30mm
    两用测头, 特别适合测粉末状的覆层厚度
    FN2
    0~2000μmφ5mm
    两用测头,可测铜铁基体上的非磁性覆层与有色金属 基体上的绝缘覆层
    F05
    0~500μmφ3mm
    磁性测头,适于测量细小钢铁物体的薄覆层,如金属镀层,氧化层等
    量程低端分辨宰很高(O.1μm)
    F1.6
    0~1600μmφ5mm
    磁性测头
    量程低端分辨率很高(O.1μm)
    F3
    0~3000μmφ5mm
    磁性测头
    可用于较厚的覆层
    F1.6/90
    0~1600μmφ5mm
    90度磁性测头
    尤其适合于在管内壁测量
    量程低端分辨率很高(O.1μm)
    F2/90
    0~2000μmφ5mm
    90度磁性测头
    尤其适合于在管内壁测量
    F10
    0~10mmφ20mm
    适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层,
    如玻璃、塑胶、混凝土等
    F20
    0~20mmφ40mm
    适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层,
    如玻璃、塑胶、混凝土等
    F50
    0~50mmφ300mm
    适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层的隔音覆层
    N02
    0~200μmφ2mm
    非磁性测头,尤其适合测量有色金属基体上的氧化层等很薄的绝缘覆层
    量程低端分辨率很高(O.1μm)
    N0.8Cr
    0~80μmφ2mm
    适用于测量铜、铝、黄铜上的极薄镀铬层
    N1.6
    0~1600μmφ2mm
    非磁性测头,适于测量有色金属基体上的较薄的绝缘覆层
    量程低端分辨率很高(O.1μm)
    N2
    0~2000μmφ5mm
    非磁性测头,适于测量有色金属基体上的较薄的绝缘覆层
    N1.6/90
    0~1600μmφ5mm
    磁性测头,适于测量较薄的绝缘覆层
    尤其适合在管内壁测量
    量程低端分辨率很高(O.1μm)
    N2/90
    0~2000μmφ5mm
    磁性测头, 尤其适合在管内壁测量
    N10
    0~10mmφ50mm
    非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等
    N20
    0~20mmφ70mm
    非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等
    N100
    0~100mm200mm
    非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等
    CN02
    10~200μmφ7mm
    用于测量绝缘材料上的有色金属覆层,如覆铜板
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