价格
电议
型号
WST-Ux-310
品牌
中西
所在地
暂无
更新时间
2019-02-02 08:40:02
浏览次数
次
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京公网安备 11010802023672号
全自动X荧光光谱仪WST-UX-310配置与参数
探测器 Amptek X-123 配置原厂MCA
高压电源 Spellman MNX50P50
X光管 丹东 X光管 Mo靶
自动化操作系统 华唯设计 实现：原级滤光片、准直器、二次滤光片、样品及测试区域定位、样品盖开关、工作曲线选择全自动
分析软件 WST-UX-310版 V6.0
多元素分析软件、 镀层膜厚分析软件（二选一）
技术参数
仪器尺寸 570 (W)* 470(D)*480(H)mm
样品腔尺寸 小样品腔：300(W)*300(D)*100(H)mm；
大样品腔：无限制，小于30公斤
重量 净重:50Kg
工作环境 15—30℃ 相对湿度≤85%(不结露)
可分析元素范围 K-U
低检出限 Cd/Cr/Hg/Br≤2 ppm ,Pb≤5ppm
测量时间 200-400s
探测器佳分辨率 149±5eV
电源 AC 220V ± 10%，50Hz 1000W
选配件
多元素分析软件、膜厚分析软件（二选一）
六价铬测试仪（可进行六价铬的定量分析）
真空系统 （可真空测氯，低检出限≤50PPm）
自选式功能组合
用户根据自己的控制要求，可选择多元素测试软件或膜厚测试软件（二选一）
• 全自动配置
自动化的操作系统、人性化的操作界面，通过鼠标即可完成全程操作（真空控制、原级滤光片、准直器、二次滤光片、样品及测试区域定位、样品盖开关、工作曲线选择全部实现自动化控制，程序会根据测试条件自动进行所有切换与设定动作），避免了操作失误、全面确保检测品质。
• 照射区控制系统
可调整的X光照射区域控制系统，实现了对测试区域的准确把握。从根本上保证测试数据与实际检测区域的对应。
• 成熟、经典的分析方法：
凭借“七·五”“九·五”科技攻关计划之科技成果，集成近二十五年分析测试应用经验的经典数学分析模型，为测试者提供可靠、、稳定的分析结果。
• 强大的软件功能
高度智能化设计使操作更加简便，轻松成为测试。
可根据测试情况，自动设定各操作单元动作及相关技术参数。既保证了相关器件的寿命，又全面提高工作效率。
全自动高精度背景拟合、多元回归等解谱方法的应用，使复杂材质的检测更加准确、便捷。
特别预置的谱图对比功能，很方便的实现历史谱图与被测谱图的对比，利于对检测数据突变材质的准确分析与进一步研究，帮助企业提升风险分析能力及应对水平。
简单、迅速的数据管理与报告输出格式，方便用户进行相关的数据管理与报告输出。
• 开放性工作曲线
用户可很方便的根据自身材质状况，针对性的建立风险材料的工作曲线，全面提高工作曲线与被测材料的对应性。从而大幅度提升风险物质的检测精度，全面提升来料允收判定依据的可靠性。
• 严谨的硬件集成与结构设计
对可能影响整机度及稳定性的核心器件，全部采用进口高端原厂器件。
模块化设计与组件选择，确保了整机性能的稳定性与未来服务的操作简便性。
特别设计的原级、二次滤光系统，既保证了对有害元素的激发效率，同时全面降低了作为干扰因素的背景强度，充分提高峰背比，大幅度降低检出下限。
• 全光路射线防护系统
业界的全光路三重防护系统（软件防护、硬件防护、迷宫式结构），根本上避免了故障、误操作等可能的辐射伤害。确保机器操作过程中对外辐射量低于环境本底值，开盖测量除外。大样品进行开盖测量时的特别警示系统，确保用户在该类物质测试过程中的安全保障。
全光路防护的结构设计，删减了无射线区域的无必要防护，进一步确保了整机散热质量，全面提升系统的环境适应性与稳定性。
针对RoHS检测设计开发
测量贵金属如金、银、铂等效果甚佳
分析测量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br
提供玩具安全检测,亦可用于测量镀层厚度和全元素分析
历史资料:2006-01-16版本 2009-11-11版本 2009-11-11版本 2009-11-11版本
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