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X荧光光谱分析仪iEDX-150uWT

价格

￥860,000.00

型号

iEDX-150uWT

品牌

ISP

所在地

广东省深圳市

更新时间

2023-10-14 14:03:08

浏览次数

次

产品简介

镀层检测，*多镀层检测可达 5 层；镀液分析分析精度为 0.001ppm（选配功能）。

2. 大可移动全自动样品平台 520*520 (长*宽)，样品移动距离前后左右各 250mm 、高度

5mm；

3. 激光定位和自动多点测量功能；

4. 运行及维护成本低、无易损易耗品，对使用环境相对要求低；

产品描述

高性能高精度X荧光光谱仪（XRF）

2. 计算机 / MCA(多通道分析仪)

2048 通道逐次近似计算法 ADC（模拟数字转换器）

Multi Ray. 运用基本参数（FP）软件，通过简单的三步进行无标样，使用基础参数

计算方法，对样品进行的镀层厚度分析

3. MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度

4. 励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

线性模式进行薄镀层厚度测量

相对（比）模式无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多镀层厚度同时测量

单镀层应用 [如：Cu/ABS 等]

双镀层应用 [如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu 等]

三镀层应用 [如：Au/Ni-P/Cu/Brass 等]

四镀层应用 [如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb 等]

合金镀层应 [如：Sn-Pb/Cu ]

5. Multi-Ray. WINDOWS7 软件操作系统

6. 完整的统计函数均值、标准差、低/高读数，趋势线，Cp 和 Cpk 因素等

7. 自动移动平台，用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量。*测量点数量 = 每

9999 每个阶段文件。每个阶段的文件有*多 25 个不同应用程序。特殊工具如"线扫描"

和"格栅"。每个阶段文件包含完全统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准

样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能。

三、产品配置及技术指标说明

1. X 射线管：高稳定性 X 光光管，使用寿命（工作时间>18,000 小时）

微焦点 x 射线管钼、钨、铑钯(可选）

焦斑直径：35μm

2. 探测器：SDD探测器

能量分辨率：125±5eV

以上信息由企业自行提供，信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责，仪器仪表交易网对此不承担任何保证责任。
温馨提示：为规避购买风险，建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。

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