PCT高压加速老化试验箱

一、概述

高压加速试验箱是用于测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，多层线路板,光伏组件,EVA,IC,LED,LCD,磁性材料,高分子材料等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。

二、主要技术参数

1.型 号：AK-PCT-350

2.内部尺寸(W×H×D)mm：Φ350×500

3.外箱尺寸(W×H×D)mm：850×1000×1550

4.使用温度：121℃；132℃

5.使用湿度：100％RH饱和蒸气湿度

6.使用蒸气压力(*压力)：1个环境大气压+0.0Kg/cm²-2.0Kg/cm²；（3.0KG/cm²属于特殊规格）。

7.温度分辨率：0.1

8.压力分辨率：指针式0.1

9.控制稳定度:温度：±0.5℃，湿度：*

10.循环方式：水蒸气自然对流循环

11.安全保护装置：缺水保护，压保护、(具有自动/手动补水功能，自动泻压功能)

12.湿度范围:*RH饱和蒸气

13.压力范围:表压力+0.2～2.0kg/cm²  加压时间:大约45分钟

14.表压力+0.2～3.5kg/cm²加压时间:55分钟  

15.循环方式:水蒸气自然对流循环

16电 源：AC220V，50／60Hz   AC380V，50／60Hz