博曼G系列产品概述:
G系列是博曼*的一款机型。该机型机构紧凑,没有可移动部件。与博曼其他系列不同,该系列X射线照射方式采用自下往上式。用户可将样品放置在一个清晰的测试窗口上,并使用相机对图像进行定位。G系列的样品仓较小,可手动调整样品位置测量样品,该系列主要应用于珠宝和其他贵金属行业的镀层分析与应用。
G系列标准配置包括一个固定准直器,一个固定焦距的相机,固态PIN探测器和质量可靠的微聚焦X射线管。与其他型号一样,该型号也可升级为包括多个准直器,可变焦点相机和SDD探测器。
博曼G系列可满足以下类型用户的需求:
- 样品测试量相对较小
- 客户或供应商对于镀层提出了新要求
- 主要分析珠宝或其他贵金属
- 预留摆放空间小
- 预算有限
博曼G系列产品参数:
类别
参数
元素测量范围:
X射线管:
探测器:
分析层数及元素数:
滤波器/准直器:
焦距:
数字脉冲器:
计算机:
相机:
电源:
重量:
马达控制/可编程XY平台:
延伸可编程XY平台:
样品仓尺寸:
外形尺寸:
13号铝元素到92号铀元素
50 W(50kV和1mA)微聚焦钨钯射线管
190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器
5层,每层可分析10种元素,成分分析*多可分析25种元素
4位置一次过滤器/双规格准直器
激光单定焦距
4096 多通道数字处理器,自动死时间和逃逸峰校正
英特尔, 酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 *版, 64位
1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率
150W,100-240V,频率范围为47Hz至63Hz
25kg
不可用
高度:125mm(5"),宽度:380mm(15"),深度:300mm(12")
高度:400mm(16"),宽度:400mm(16"),深度:380mm(15")
关于美国博曼:
美国博曼(Bowman)是高精度台式镀层测厚仪供应商,拥有近40年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有知识产权的镀层检测技术和*的软件系统,可*高效地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素,其中任何两层元素可以是合金。同时,博曼XRF系统也可以测量高熵合金(HEAs)。
其他推荐产品
首页| 关于我们| 联系我们| 友情链接| 广告服务| 会员服务| 付款方式| 意见反馈| 法律声明| 服务条款
博曼G系列产品概述:
G系列是博曼*的一款机型。该机型机构紧凑,没有可移动部件。与博曼其他系列不同,该系列X射线照射方式采用自下往上式。用户可将样品放置在一个清晰的测试窗口上,并使用相机对图像进行定位。G系列的样品仓较小,可手动调整样品位置测量样品,该系列主要应用于珠宝和其他贵金属行业的镀层分析与应用。
G系列标准配置包括一个固定准直器,一个固定焦距的相机,固态PIN探测器和质量可靠的微聚焦X射线管。与其他型号一样,该型号也可升级为包括多个准直器,可变焦点相机和SDD探测器。
博曼G系列可满足以下类型用户的需求:
- 样品测试量相对较小
- 客户或供应商对于镀层提出了新要求
- 主要分析珠宝或其他贵金属
- 预留摆放空间小
- 预算有限
博曼G系列产品参数:
类别
参数
元素测量范围:
X射线管:
探测器:
分析层数及元素数:
滤波器/准直器:
焦距:
数字脉冲器:
计算机:
相机:
电源:
重量:
马达控制/可编程XY平台:
延伸可编程XY平台:
样品仓尺寸:
外形尺寸:
13号铝元素到92号铀元素
50 W(50kV和1mA)微聚焦钨钯射线管
190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器
5层,每层可分析10种元素,成分分析*多可分析25种元素
4位置一次过滤器/双规格准直器
激光单定焦距
4096 多通道数字处理器,自动死时间和逃逸峰校正
英特尔, 酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 *版, 64位
1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率
150W,100-240V,频率范围为47Hz至63Hz
25kg
不可用
不可用
高度:125mm(5"),宽度:380mm(15"),深度:300mm(12")
高度:400mm(16"),宽度:400mm(16"),深度:380mm(15")
关于美国博曼:
美国博曼(Bowman)是高精度台式镀层测厚仪供应商,拥有近40年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有知识产权的镀层检测技术和*的软件系统,可*高效地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素,其中任何两层元素可以是合金。同时,博曼XRF系统也可以测量高熵合金(HEAs)。