FE-300F 是日本 OTSUKA大冢电子 出品的台式显微分光膜厚监测仪（薄膜厚度监测仪）主打高精度、多层膜、非接触测量，玉崎科学仪器现货！

一、核心参数（FE-300F 标准型）

• ：OTSUKA 大冢电子（日本）
• 测量原理：反射分光法 / 白光干涉
• 波长范围：300～800 nm（UV-Vis）
• 膜厚范围：3 nm～35 μm（SiO₂换算）
• 测量光斑：Φ1.2 mm
• 测量时间：0.1～10 秒
• 层数：*多 10 层膜
• 测量项目：膜厚、折射率 n、消光系数 k、反射率
• 尺寸 / 重量：280×570×350 mm / 24 kg
• 电源：AC 100–240 V

二、子系列（按波长 / 量程）

• FE-300F（标准）：300–800 nm，3 nm–35 μm
• FE-300UV（薄膜）：300–800 nm，10 nm–20 μm
• FE-300NIR（厚膜）：900–1600 nm，3 μm–300 μm

三、价格参考（2026 年 3 月，深圳）

• FE-300F（标准型）：
  • ¥180,000～220,000 / 台
• FE-300UV / NIR：
  • +15%～30%
• 货期：日本原装，8–12 周

四、典型应用

• 半导体：氧化膜、氮化膜、光刻胶、SiC/GaN 外延膜
• 显示 / 光学：ITO、AR / 增透膜、OLED、偏光 / 相位差膜
• 功能薄膜：硬涂层、防指纹、DLC、保护膜、PET/PC/PP 树脂膜