热工类仪器校准:温度计、温湿度计、烤箱、恒温恒湿机、盐雾试验机、耐寒试验机、耐黄变试验机、熔融指数试验机、电线加热变形试验机、温度巡检仪、炉温测试仪、多点采集器、恒温槽(水槽、油槽、水浴锅)、辐射温度计等。

理化类仪器校准:可调移液器、常用玻璃量器（量筒、烧杯、容量瓶等）、pH计、密度计、波美计、白度计、声级计、照度计、光泽度计、旋转粘度计、紫外分光光度计、原子吸收分光光度计、色差仪、电位滴定仪、X射线荧光光谱仪（ROHS检测仪）、电导率仪、气相色谱仪、液相色谱仪、频闪仪、透光率仪、木材水分测湿仪、标准光源箱等。

禅城区温湿度计校准校验单位图(1)

  经典光谱仪器都是狭缝光谱仪器。调制光谱仪是非空间分光的，它采用圆孔进光根据色散组件的分光原理,光谱仪器可分为:
   棱镜光谱仪，衍射光栅光谱仪和干涉光谱仪.光学多道OMA(Optical Multi-channel Analyzer)是近十几年出现的采用光子探测器(CCD)和计算机控制的*光谱分析仪器,它集信息采集，处理，存储诸功能于一体。
   由于OMA不再使用感光乳胶,避免和省去了暗室处理以及之后的一系列繁琐处理，测量工作，使传统的光谱技术发生了根本的改变,大大改善了工作条件，提高了工作效率：
   使用OMA分析光谱，测盆准确迅速，方便，且灵敏度高，响应时间快，光谱分辨率高，测量结果可立即从显示屏上读出或由打印机，绘图仪输出。
   它己被广泛使用于几乎所有的光谱测量，分析及研究工作中,特别适应于对微弱信号，瞬变信号的检测。
其中，n为大于1的自然数，an代表第n个补偿周期获取的补偿参数，mn-1代表第n-1个补偿周期存储的补偿余数，nn代表RTC模块的补偿单位，b代表RTC模块的补偿单位的整数倍，mn代表第n个补偿周期的补偿余数。在第n个补偿周期中，所述根据所述补偿校准值和所述补偿余数对RTC模块的时钟频率进行校准，具体包括：按照所述第n个补偿周期的补偿校准值对所述RTC模块的时钟频率进行校准，并存储所述第n个补偿周期的补偿余数。



禅城区温湿度计校准校验单位图(2)

发射光谱分析的过程
   光谱分析仪的分析原理是将光源辐射出的待测元素的特征光谱通过样品的蒸汽中待测元素的基态原子所吸收，由发射光谱被减弱的程度，进而求得样品中待测元素的含量。
    1．把试样在能量的作用下蒸发、原子化(转变成气态原子)，并使气态原子的外层电子激发至高能态。当从较高的能级跃迁到较低的能级时；

从这个角度上看，频谱分析仪更适合测量晶体频率。2仪器测量频率的精度从下面两个方面来分析仪器的哪些参数影响到测量精度-内部时钟精度-测量值分辨率初步定性分析，频率计作为*测试设备，内部时钟精度不差，从定期的仪器校验结果看，精度高于1ppm，特别是它的分辨率12bit是非常高的；频谱分析仪的时钟精度看上去也可以，而且1Hz的分辨率满足测试要求，但实际扫描到功率峰值的频率是否稳定还需要验证；而示波器的时钟精度看上去与前两者相差并不大，但需要考虑到：量化误差（前端信号采集系统的8位ADC引起的信号幅度测量误差）引起的垂直电平测量不准确性，以及采样率不足等因素都会引起水平轴的测量误差，终导致频率值测量误差，而且其分辨率情况需要实测验证。
   原子将释放出多余的能量而发射出特征谱线。这一过程称为蒸发、原子化和激发，需借助于激发光源来实现。

2．把原子所产生的辐射进行色散分光，按波长顺序记录在感光板上，就可呈现出有规则的光谱线条，即光谱图。系借助于摄谱仪器的分光和检测装置来实现。



禅城区温湿度计校准校验单位图(3)

 3．根据所得光谱图进行定性鉴定或定量分析。由于不同元素的原子结构不同，当被激发后发射光谱线的波长不尽相同；
   即每种元素都有其特征的波长，故根据这些元素的特征光谱就可以准确无误的鉴别元素的存在(定性分析)；
     仪器的校准：送至认可之校验单位校验，提供检验报告书，并可追溯溯源。内校：使用可追溯经校验合格的标件，作为厂内仪器的内校依据，由厂内合格校验人员执行校验游校：须进行外校仪器/设备由于体积态大或灵敏度很高不方便搬动，第三方检测机构人员下厂进行校验。
测试了一路200MHz载波的线性调频脉冲信号，脉冲周期5us，脉宽1us，带宽50MHz，同时给出了时域波形、包络及频谱测试结果。测试过程中，还可以灵活调整Span和RBW以便观测包络谱或者线状谱，从而对信号进行更加细致的分析。多通道频谱分析示波有多个模拟通道，每个通道均可以SpectrumView功能，因此支持多通道频谱测试。在复杂调试过程中，可以实现对多点的波形和频谱监测。类似于MSO64的多通道时域波形显示方式，所的频谱既可以“堆栈(Stacked)”显示，也可以“重叠(Overlay)”显示。

传感器对某一物理量的准确程度取决于传感器的性能指标。为了确定传感器的测量范围、准确性，必须对传感器的性能指标进行测试。对新研制的传感器，必须进行的技术性能的测试和校准，用测试和校准的数据确定其测试范围、准确程度。对于标准型的传感器，用校准数据进行量值传递。这些测试数据，既是衡量传感器好坏的依据，也是改进传感器设计和工艺的依据。传感器经过一段时间储存或使用后，性能指标是会发生变化的，因此对传感器的性能指标要定期进行复测。 

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