日照岚山区计量设备校准中心-CNAS资质

    力学类仪器校准:砝码、电子称、电子天平、压力表、扭力批、测力仪、推拉力计、拉压力试验机、摆锤式冲击试验机、布洛维氏硬度计、振动试验台、胶带剥离试验机、纸板环压试验机、冲击试验机、破裂强度试验机、数字式渗水性测定仪、拉链往复试验机等。


日照岚山区计量设备校准中心图(1)

光电雾度仪的原理

     雾度是透过试样而偏离入射光方向的散射光通量与透射光通量之比，用百分数表示。通常仅将偏离入射光方向2.5度以上的散射光通量用于计算雾度。光电雾度仪是根据GB2410-80及ASTM D1003-61(1997-2004)设计的小型雾度仪。适用于平行平板或塑膜样品的测试，能广泛应用于透明、半透明材料雾度、透光率的光学性能检验。
     光电雾度仪具有结构小巧，使用操作方便的特点。光电雾度仪适用于各种材料的透光率和雾度值的测定。一束平行光束入射某介质(如透明塑料)时，由于物质光学性质的不均匀性;表面缺陷，内部组织的不均匀，气泡和杂质存在等，光束就会改变方向(扩散和偏折)，产生的部分杂乱无章光线称散射光。

20世纪80年代开始，非制冷红外焦平面阵列探测器在美国军方支持下发展起来的，在1992年全部研发完成后才对布。初期技术路线包括德州仪器研制的BST热释电探测器和霍尼韦尔研制的氧化钒（VOx）微测辐射热计探测器。后来由于热释电技术本身的一些局限性，微测辐射热计探测器逐渐胜出。2009年，L-3公司终宣布停止继续生产热释电探测器。之后，法国的CEA/LETI以及德州仪器公司又分别研制了非晶硅（a-Si）微测辐射热计探测器。

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    用透过试样而偏离入射光方向的散射光通量与透射光通量之比用百分数来表示，这就是所谓雾度。雾度大的试样给人的感觉将更加模糊。在25℃（Tc）时有公式：恒成立。把线性降额因子设为F，则在任意温度时有：代入已知参数得到F＞5mW/℃，一般为了满足裕量要求，降额因子往往取得更大才能满足可靠性设计要求。由于小晶体管和芯片是不带散热器的，这时就要考虑壳体到空气之间的热阻。一般数据手册会给出Rja（结到环境之间的热阻）。那么三极管S8050，其功率0.625W是在其壳温25℃时取得的。倘若环境温度刚好为25℃，芯片自身又要消耗0.625W的功率，那么为了满足结点不过150℃，的办法就是让其得到足够好的散热。
     光线在透过试样时还会产生损失，即穿过试样的透射光通量永远小于照射到试样上的入射光通量。两者之比，用百分数表示，上定义为透光率。引起透光率下降的原因是试样两个表面对光线的反射和试样对入射光线的全波长或部分波长的光能量吸收等。

    光电雾度仪,适用于平行平板或塑膜样品的测试，能广泛应用于透明、半透明材料雾度、透光率的光学性能检验。光电雾度仪具有结构小巧，使用操作方便的特点。光电雾度仪适用于各种材料的透光率和雾度值的测定

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同时，还须注意传感器的安装方法，支撑结构的设置，如何克服横向力等问题。作为一次仪表的传感器通常由敏感元件与转换元件组成。转换元件就是精密的电桥。测力秤重用电阻应变式传感器主要由弹性体、应变片、粘帖胶及各种补偿电阻构成。他的稳定性也必然是由这些元件的内、外因的综合作用所决定。本文就此问题进行探讨，谈些粗浅看法，与同行商榷。首先是弹性元件。弹性元件一般是由合金钢材及有色金属铝、铍青铜等加工成型，影响弹性体稳定性，主要是它经各种处理后的金相组织及残余应力。
新一代无源光网络(PON)Tyndall光电子封装小组研究经理Dr.LeeCarroll表示：“过去的十年见证了硅光子从出现到成为新一代信息通信技术应用媒介的发展过程。采用面对面叠加法（3D集成）在硅光子集成电路(Si-PIC)顶部安装驱动器电子集成电路是一种基于光电子平台实现高速电子解调与分配的实用方案。Tyndall研究目前正在研发用于高速家用光纤网络连接的新一代无源光网络(PON)演示模块。数字荧光频谱图在一个二维图谱上显示三维数，横轴代表频率，纵轴代表幅度，像素点的色彩是第三个维度代表密度，即统计次数。数字荧光频谱视图示意图实时频谱分析凭借数字荧光频谱图与无缝瀑布图等图的优势，能够发现瞬态信号、查找大信号下的小信号并且能够查看信号随时间变化的全部过程。现信号1.1发现强信号下的弱信号RF信号的多样化和普遍性增加了系统和信号相互干扰的可能性。RF环境的复杂化使得系统极易受到其他信号的干扰或自身产生难以察觉到的干扰信号，利用传统扫频式频谱分析仪器很难在工作环境中识别到干扰信号及其来源。

汉寿县仪器仪表校准单位-CNAS报告