E+H雷达物位计 - 应用介质
智能雷达物位计适用于对液体、浆料及颗粒料的物位进行非接触式连续测量，适用于温度、压力变化大；有惰性气体及挥发存在的场合。
采用微波脉冲的测量方法，并可在工业频率波段范围内正常工作。波束能量较低，可安装于各种金属、非金属容器或管道内，对人体及环境均无伤害。
E+H雷达物位计 - 注意事项
测量范围从波束触及罐低的那一点开始计算，但在特殊情况下，若罐低为凹型或锥形，当物位低于此点时无法进行测量。 
若介质为低介电常数当其处于低液位时，罐低可见，此时为保证测量精度，建议将零点定在低高度为C 的位置。 
理论上测量达到天线的位置是可能的，但是考虑到腐蚀及粘附的影响，测量范围的终值应距离天线的至少100mm。 
对于过溢保护，可定义一段安全距离附加在盲区上。 
小测量范围与天线有关。 
随浓度不同，泡沫既可以吸收微波，又可以将其反射，但在一定的条件下是可以进行测量的。
E+H雷达物位计FMR 130
E+H雷达物位计FMR 131
E+H雷达物位计FMR 230
E+H雷达物位计FMR 231
E+H雷达物位计FMR 240
E+H雷达物位计FMR 244
E+H雷达物位计FMR 245
E+H雷达物位计FMR 250
E+H雷达物位计FMR 530
E+H雷达物位计FMR 531
E+H雷达物位计FMR 532
E+H雷达物位计FMR 533
E+H超声波物位计
E+H超声波物位计FDU 91...96
E+H超声波物位计FMU 230/231
E+H超声波物位计FMU 40/41/42/43
E+H超声波物位计FMU 90
E+H超声波物位计FTU 230/231
E+H导波雷达物位计
E+H导波雷达物位计FMP 40
E+H导波雷达物位计FMP 41C
E+H导波雷达物位计FMP 45