• 用于晶片掺杂的C-V测量
• 变容二极管的C-V表征和分类。
• 射频混频器和转换二极管的电容测试。
• 通过进厂检验的应用直流偏置测试电容器。
• 测量时间：10ms/20ms/30ms
• 测量精度：0.1%（20ms）
• 内部直流偏置：0至+/-38V，0.1%可编程扫描
• 测量范围：0.00001pF至1280pF

Keysight 4279A 1MHz C-V表在测量半导体的电容和偏置电压特性方面，是提高测量质量和吞吐量的佳解决方案。Keysight 4279A在扫描直流偏置电压的同时，可测量0.00001pF至1280.00pF范围的电容，基本精度为0.1%，显示分辨率为6位。因为偏置电压不确定度很低，所以在+/-38V范围内，电压精度达0.1%的内部可编程直流偏置扫描源可确保非常少的测量错误。这使Keysight 4279A成为了表征和测试变容二极管、MOS二极管等的器件理想工具。测量时间具有三种可选模式：10ms、20ms和30ms/meas，以达到大生产效率。Keysight 4279A的快速量程选择和高速GP-IB数据传输能力可以缩短测试时间。