OTSUKA大塚电子 SF-3/300 高速光谱干涉式厚度计 

OTSUKA大塚电子 SF-3/300 高速光谱干涉式厚度计 

• 可实现非接触、非破坏性厚度测量
• 反射光学系统（单侧接触即可测量）
• 高速性（*快5kHz）且可实时评估
• 高稳定性（重复精度低于0.01%）
• 耐粗糙
• 可适应任意距离
• 支持多层结构（*多5层）
• 内置NG数据排除功能

北崎国际贸易（北京）有限公司代理一览明细：

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