一、产品概述

MCPD 系列多通道光谱仪是适配光源发射、荧光材料检测的通用型多功能光谱检测器，覆盖紫外 - 可见光 - 近红外完整宽波段，单次全光谱采集仅 5ms；采用标准通用光纤接口，可自由搭配积分球、显微光路、真空测头、旋转测角台各类前端模组，一套主机同时支持显微光谱、光源发射、透射 / 反射、荧光量子效率、色度评估、薄膜厚度多维度检测，是照明、荧光材料、半导体薄膜、紫外产业全品类光学测量的核心通用光谱采集单元。

二、核心硬件技术参数

1. ：Otsuka 大塚

2. 产品系列：MCPD 系列（MCPD-6800/MCPD-9800）发射、荧光测量多通道光谱仪

3. 检测架构：多通道并行分光光度计，紫外 - 近红外全波段覆盖

4. 采集速度：单次完整光谱测量仅 5ms，高速适配产线在线动态监测

5. 光路拓展：标准通用光纤接口，无样品 / 系统限制，兼容各类前端测量工装

6. 原生支持测量模式：显微光谱、光源发射光谱、透射光谱、反射光谱、荧光发射光谱

7. 软件拓展能力：配套软件可实现物体色彩色度评估、薄膜厚度光谱拟合计算

8. 整机形态：台式一体化主机，配套上位机数据处理软件，可集成真空 KF 管路、自动化产线设备

9. 探测特性：低噪声探测器，弱荧光、弱紫外光源信号无失真，长时连续运行基线稳定

三、核心技术优势

1. 5 毫秒高速并行光谱采集，适配动态产线

多通道并行分光光路，无需逐段扫描，5ms 完成全波段光谱捕获，匹配高速晶圆抛光、LED 分选、卷材固化流水线动态在线监测，不会因样品高速运动丢失光谱数据。

2. 紫外到近红外全波段一体化覆盖，荧光 / 发射双场景通用

一套设备完整覆盖深紫外、可见光、近红外区间，既可做照明 LED、紫外光源发射光谱测试，也可用于荧光粉体、量子点、薄膜荧光光谱采集，无需更换多台光谱主机。

3. 标准化光纤模块化拓展，系统兼容性极强

通用光纤接口可自由搭配积分球、显微测头、旋转测角台、真空密闭光纤探头，无缝对接光通量、光分布、荧光量子效率、薄膜测厚、辐照度各类测量系统，降低设备成套改造成本。

4. 多模式一体化检测，一机覆盖全链条光学需求

同时支持显微微区、发射、透射、反射、荧光五大基础光谱测量；配套软件拓展色度、薄膜厚度分析，兼顾实验室新品研发、量产产线在线质检两类场景。

5. 弱光高信噪比光路，荧光材料检测精度优异

内置低杂散光分光结构，弱荧光粉体、低浓度荧光溶液、薄发光薄膜微弱荧光信号可*捕获，荧光量子效率、发射光谱测量重复性大幅提升。

四、核心功能

1. 紫外 — 近红外宽波段多通道高速光谱并行采集，单次测量仅 5ms；

2. 兼容光源发射、荧光、显微、透射、反射五大基础光谱测量模式；

3. 标准光纤拓展各类工装，适配照明、荧光、半导体薄膜全品类样品；

4. 配套软件实现色彩色度评估、单层 / 多层薄膜厚度光谱拟合解析；

5. 可集成真空腔体、自动化产线，完成原位荧光、光源发射光谱在线监测。