日本TOPCON拓普康近红外分光辐射亮度计SR-NIR

产品概述：近年来，在显示器及照明市场上，对“近红外领域”的测定需求日渐增多。之前，行业内并没有一款能够简便且高精度测定近红外光的相关仪器。拓普康公司在通过开发生产SR系列分光辐射度计所培育并积累起来的技术基础之上，开发出了"SR-NIR近红外分光辐射度计”。本产品和其他型号的SR系列分光辐射度计一并使用，能够测定380nm-1030nm的分光辐射高度。高精度测定微弱近红外光
TOPCON拓普康近红外分光辐射高度计SR-NIR

日本TOPCON拓普康近红外分光辐射亮度计SR-NIR特点:
能测定从FPD到微弱发光的近红外领域。
高精度测定近红外领域(600~1030nm)的分光分布。
和本公司其他型号的分光辐射度计一并使用时，能够测定可见光~近红外光(380~1030nm)的分光分布。

日本TOPCON拓普康近红外分光辐射亮度计SR-NIR用途:
观察各类FPD的近红外领域的输出
观察Ne、Ar的光谱线输出。
◆光学膜等的近红外透过特性评价。