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资料整合(1)建筑节能工程概况资料;(2)建筑节能工程分包资质及合同;(3)建筑节能工程设计文件;(4)施工图审查意见书;(5)节能工程设计变更及施工图变更审查文件;(6)节能“四新”技术评审、鉴定及备案文件;(7)节能材料复验、现场检测合格证书;(8)样板间、样板件确认文件。墙体隐蔽验收(1)墙体保温层附着基层及其表面处理;(2)保温板粘结固定效果;(3)锚固件安装固定效果;(4)热桥部位处理;(5)预制保温板或墙板的构造节点;(6)保温材料喷涂界面覆盖效果;(7)隔热砌块填充效果。幕墙隐蔽验收(1)保温材料厚度值;(2)保温材料铺设固定效果;(3)幕墙周边与墙体的接缝处保温材料的填充;(4)构造缝、结构缝;(5)隔汽层;(6)热桥部位、断热节点;(7)单元式幕墙板块间的接缝构造;(8)冷凝水收集和排放构造;(9)幕墙的通风换气装置。屋面地面隐蔽验收(1)保温材料性能指标;(2)保温层含水率;(3)地面节能工程隐蔽验收内容;(4)封闭保温材料厚度;(5)保温材料粘贴效果;(6)隔断热桥部位。门窗节能验收(1)检查门窗型号、数量、规格尺寸、开启形式、开启方向;(2)检查加工质量是否符合设计要求,附件配套是否齐全;(3)检查门窗框靠墙侧是否涂刷防腐材料;(4)检查外窗气密性、保温性能、玻璃遮阳系数及中空玻璃露点;(5)检查玻璃抗风压性能。管道工程验收(1)检查管道品种、规格及安装位置是否符合设计要求;(2)管道安装坡度是否符合设计要求;(3)对管道系统进行试压;(4)焊口尺寸允许偏差;(5)焊接钢管的管道转变方式;(6)管道防腐涂装效果;(7)隐蔽工程质量验收记录。
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d)测量步骤将试件置于测量装置的工作面上,切割面与光轴垂直。Ⅰ)当试件内侧为圆形时,应按图l径向测量6点。如是扇形绝缘线芯,则按图2测量6点Ⅱ)当绝缘是从绞合导体上截取时,应按图3和图4径向测量6点。Ⅲ)当试件外表面凹凸不平时,应按图5测量6点。Ⅳ)当绝缘内外均有不可去除的屏蔽层时,屏蔽层厚度应从测量值中减去。当不透明绝缘内外均有不可除去的屏蔽层时,应使用读数显微镜测量。Ⅴ)无护套扁平软线应按图6测量。两导体之间*短距离的一半作为绝缘线芯的绝缘厚度。在任何情况下,好次测量应在绝缘*薄处进行。如果绝缘试件包括压印标记凹痕,则该处绝缘厚度不应用来计算平均厚度。但在任何情况下,压印标记凹痕处的绝缘厚度应符合有关电缆产品标准中规定的*小值。若规定的绝缘厚度为0.5mm及以上时,读数应测量到小数点后两位(以mm计);若规定的绝缘厚度小于0.5mm时,则读数应测量到小数点后三位,第三位为估计数。5芯及以下电缆,每芯均要检查,5芯以上电缆,任检5芯,检查是否符合要求。若取出导体有困难,可放在拉力机上抽取,或将一段绝缘线芯试样浸入水银中,直至绝缘变得松弛,能把导体抽出。
7.4力学性能7.4.1绝缘材料7.4.1.1概述本方法是在电缆制成时条件件下(即未经老化处理),如果需要也可以按有关电缆产品标准规定的一种或几种加速老化处理后,测定电缆绝缘材料(不包括半导体)的抗张强度和断裂伸长率。空气烘箱、空气弹和氧弹老化步骤参见GB/T2951.2—2008中规定。需老化处理的试件应取自紧靠未老化试验用试件后面一段。老化和未老化试件的拉力试验连续进行。注:如有必要增加试验的可靠性,由同一操作人员,使用同一种测试方法,在同一个实验室同一台机器上对老化和未老化试件进行试验。7.4.1.2取样从每个被试绝缘线芯试样(或每个被取绝缘线芯的绝缘试样)上切取足够长的样段,供制取老化前机械性能试验用试件至少5个和供要求进行各种老化用试件各至少5个。要注意制备每个试件的取样长度要求100mm。扁平软线的绝缘线芯不应分开。有机械损伤的任何试样均不应用于试验。7.4.1.3试件制备及处理a)管状试件将线芯试样切成约100mm的小段,抽出导体,去除所有外护层,注意不要损伤绝缘。每个管状试件均标上记号,以识别取自哪个试样及其在试样上彼此相关的位置。采用下述一个或多个操作方法能使抽取导体方便:Ⅰ)拉伸硬导体Ⅱ)在小的机械力作用下小心滚动绝缘线芯;Ⅲ)如果是绞合线芯或软导体,可先抽取中间l根或几根导体。导体抽出后,将隔离层(如有的话)除去。如有困难,可使用下述任一种方法----如是纸隔离层,浸入水中;----如是聚醒隔离层,浸入酒精中;----在光滑的平面上滚动绝缘。拉力试验前,在每个管状试件的中间部位标上两个标记,间距为20mm。如果隔离层仍保留在管状试件内,那么在拉力试验过程中试样拉伸时会发现试件不规整。如发生上述情况,该试验结果应作废。b)试样的处理拉力试验前,所有试件应在(23±5)℃温度下存放至少3h。避免阳光直射,但热塑性绝缘材料试件的存放温度为(23±2)℃。如有疑问,则在制备试件前,所有材料或试条应在70±2℃温度下(如有关电缆产品标准没有规定其它的处理温度)放置24h。处理温度应不过导体的*工作温度。这一处理过程应在测量试件尺寸之前进行。
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资料整合(1)建筑节能工程概况资料;(2)建筑节能工程分包资质及合同;(3)建筑节能工程设计文件;(4)施工图审查意见书;(5)节能工程设计变更及施工图变更审查文件;(6)节能“四新”技术评审、鉴定及备案文件;(7)节能材料复验、现场检测合格证书;(8)样板间、样板件确认文件。墙体隐蔽验收(1)墙体保温层附着基层及其表面处理;(2)保温板粘结固定效果;(3)锚固件安装固定效果;(4)热桥部位处理;(5)预制保温板或墙板的构造节点;(6)保温材料喷涂界面覆盖效果;(7)隔热砌块填充效果。幕墙隐蔽验收(1)保温材料厚度值;(2)保温材料铺设固定效果;(3)幕墙周边与墙体的接缝处保温材料的填充;(4)构造缝、结构缝;(5)隔汽层;(6)热桥部位、断热节点;(7)单元式幕墙板块间的接缝构造;(8)冷凝水收集和排放构造;(9)幕墙的通风换气装置。屋面地面隐蔽验收(1)保温材料性能指标;(2)保温层含水率;(3)地面节能工程隐蔽验收内容;(4)封闭保温材料厚度;(5)保温材料粘贴效果;(6)隔断热桥部位。门窗节能验收(1)检查门窗型号、数量、规格尺寸、开启形式、开启方向;(2)检查加工质量是否符合设计要求,附件配套是否齐全;(3)检查门窗框靠墙侧是否涂刷防腐材料;(4)检查外窗气密性、保温性能、玻璃遮阳系数及中空玻璃露点;(5)检查玻璃抗风压性能。管道工程验收(1)检查管道品种、规格及安装位置是否符合设计要求;(2)管道安装坡度是否符合设计要求;(3)对管道系统进行试压;(4)焊口尺寸允许偏差;(5)焊接钢管的管道转变方式;(6)管道防腐涂装效果;(7)隐蔽工程质量验收记录。
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d)测量步骤将试件置于测量装置的工作面上,切割面与光轴垂直。Ⅰ)当试件内侧为圆形时,应按图l径向测量6点。如是扇形绝缘线芯,则按图2测量6点Ⅱ)当绝缘是从绞合导体上截取时,应按图3和图4径向测量6点。Ⅲ)当试件外表面凹凸不平时,应按图5测量6点。Ⅳ)当绝缘内外均有不可去除的屏蔽层时,屏蔽层厚度应从测量值中减去。当不透明绝缘内外均有不可除去的屏蔽层时,应使用读数显微镜测量。Ⅴ)无护套扁平软线应按图6测量。两导体之间*短距离的一半作为绝缘线芯的绝缘厚度。在任何情况下,好次测量应在绝缘*薄处进行。如果绝缘试件包括压印标记凹痕,则该处绝缘厚度不应用来计算平均厚度。但在任何情况下,压印标记凹痕处的绝缘厚度应符合有关电缆产品标准中规定的*小值。若规定的绝缘厚度为0.5mm及以上时,读数应测量到小数点后两位(以mm计);若规定的绝缘厚度小于0.5mm时,则读数应测量到小数点后三位,第三位为估计数。5芯及以下电缆,每芯均要检查,5芯以上电缆,任检5芯,检查是否符合要求。若取出导体有困难,可放在拉力机上抽取,或将一段绝缘线芯试样浸入水银中,直至绝缘变得松弛,能把导体抽出。
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7.4力学性能7.4.1绝缘材料7.4.1.1概述本方法是在电缆制成时条件件下(即未经老化处理),如果需要也可以按有关电缆产品标准规定的一种或几种加速老化处理后,测定电缆绝缘材料(不包括半导体)的抗张强度和断裂伸长率。空气烘箱、空气弹和氧弹老化步骤参见GB/T2951.2—2008中规定。需老化处理的试件应取自紧靠未老化试验用试件后面一段。老化和未老化试件的拉力试验连续进行。注:如有必要增加试验的可靠性,由同一操作人员,使用同一种测试方法,在同一个实验室同一台机器上对老化和未老化试件进行试验。7.4.1.2取样从每个被试绝缘线芯试样(或每个被取绝缘线芯的绝缘试样)上切取足够长的样段,供制取老化前机械性能试验用试件至少5个和供要求进行各种老化用试件各至少5个。要注意制备每个试件的取样长度要求100mm。扁平软线的绝缘线芯不应分开。有机械损伤的任何试样均不应用于试验。7.4.1.3试件制备及处理a)管状试件将线芯试样切成约100mm的小段,抽出导体,去除所有外护层,注意不要损伤绝缘。每个管状试件均标上记号,以识别取自哪个试样及其在试样上彼此相关的位置。采用下述一个或多个操作方法能使抽取导体方便:Ⅰ)拉伸硬导体Ⅱ)在小的机械力作用下小心滚动绝缘线芯;Ⅲ)如果是绞合线芯或软导体,可先抽取中间l根或几根导体。导体抽出后,将隔离层(如有的话)除去。如有困难,可使用下述任一种方法----如是纸隔离层,浸入水中;----如是聚醒隔离层,浸入酒精中;----在光滑的平面上滚动绝缘。拉力试验前,在每个管状试件的中间部位标上两个标记,间距为20mm。如果隔离层仍保留在管状试件内,那么在拉力试验过程中试样拉伸时会发现试件不规整。如发生上述情况,该试验结果应作废。b)试样的处理拉力试验前,所有试件应在(23±5)℃温度下存放至少3h。避免阳光直射,但热塑性绝缘材料试件的存放温度为(23±2)℃。如有疑问,则在制备试件前,所有材料或试条应在70±2℃温度下(如有关电缆产品标准没有规定其它的处理温度)放置24h。处理温度应不过导体的*工作温度。这一处理过程应在测量试件尺寸之前进行。
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