BX51-P是利用偏光识别样品的不同特性的高级偏光系统显微镜。适用于各向同性、各向异性材料的鉴别，广泛应用于矿物、化工产品，医学、植物学等分析。除偏光观察外，还可以进行大范围的光程差测量，而且，可与中间镜筒、数码相机以及BXiS系列的部件相组合，进一步提高了系统性能。兼具优异光学性能和系统性能的偏光观察的高级机型。