Otsuka 大塚 光谱辐射计照度测量系统

一、产品概述

紫外光谱辐射计辐照度测量系统是面向 UVA/UVB/UVC 紫外 LED、紫外固化 / 消杀光源开发的便携式单点紫外辐照高精度检测设备，采用分体光纤紫外测头搭配紫外增强 MCPD 光谱探测单元，依托光谱辐照度测量算法，*量化目标平面单点紫外辐照度、分段紫外光谱能量，适配研发实验室、产线工位便携抽检、UV 固化设备现场调试，实现全紫外波段高精度无损检测。

二、核心硬件技术参数

1. ：Otsuka 大塚

2. 设备名称：紫外光谱辐射计辐照度测量系统

3. 检测原理：紫外光谱反射分光法，光谱辐照度运算算法

4. 整机结构：台式 / 便携主机 + 分体柔性光纤测头，分体式可灵活伸入狭小工位、密闭腔体

5. 适配光源：UVC 消毒 LED、UV 树脂固化灯、光刻紫外光源、紫外特种照明

6. 光谱覆盖：深紫外至 UVA 全紫外波段，内置可见光杂光滤除光路

7. 测量指标：单点紫外辐照度、分波段光谱辐射能量、峰值波长、紫外波段积分辐射强度

8. 使用形式：离线手持便携测量，可搭配 V-KF 真空波纹管接入密闭 UV 腔体原位检测

9. 测量特性：非接触光学测量，无样品表面划伤、污染风险

三、核心技术优势

1. 紫外专属光谱光路，紫外波段高精度测量

整套光路、滤光片、光纤针对紫外波段优化，自动过滤可见光杂散光干扰，解决普通照度计可见光信号掩盖紫外辐射、测量数值失真的行业痛点，弱紫外 LED、低功率固化灯检测精度大幅提升。

2. 分体光纤便携测量，狭小工位灵活检测

光纤测头与主机分离，可手持伸入固化机腔体、狭小设备内部、真空密闭腔体内，无需拆解设备即可完成单点辐照度采样，适配现场调试、产线工位随机抽检。

3. 单点快速光谱辐照度一体化输出

单次测量同步获取单点紫外辐照度与全紫外光谱曲线，分段输出 UVA/UVB/UVC 各波段能量占比，完整评估光源紫外输出性能，无需多台设备搭配测试。

4. 轻量化便携架构，多场景通用

主机体积小巧，可放置实验室操作台，也可随身携带至产线各工位现场抽样，兼顾研发配方迭代、产线品质抽检、设备现场调试多场景使用。

5. 低析出洁净光路，无尘车间适配

光纤窗口、测头接触面镜面抛光无金属粉尘析出，可用于千级无尘车间 UV 薄膜、晶圆制程洁净样品检测。

四、核心功能

1. *评估各类紫外光源单点平面紫外区域辐照度，全紫外波段高精度光谱测量；

2. 同步采集紫外分段光谱能量、峰值波长，完整解析紫外光源光学特性；

3. 分体光纤便携测头，可伸入狭小设备、真空腔体完成离线原位抽检；

4. 非接触无损测量，紫外光源、基材可重复测试，无样品报废损耗；

5. 检测数据自动存储导出，留存辐照参数用于工艺对比、出厂品质审核。

五、典型应用场景

1. 消杀行业：UVC 消毒灯具、空气净化模组工位单点辐照度现场抽检；

2. UV 固化产业：树脂、油墨、胶粘剂固化设备辐照强度调试、产线抽样检测；

3. 半导体光刻：光刻紫外光源单点辐照能量实验室研发测试；

4. 新材料研发：*紫外发光芯片、光催化特种光源光谱辐照特性研究。

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