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首页 >山金工业(深圳)有限公司> 技术文章> 实惠 TSUTSUI筒井理化学器械 Lee-Nurse 比表面积测量仪
实惠 TSUTSUI筒井理化学器械 Lee-Nurse 比表面积测量仪
2026/08/03 13:51:51
测量仪是用于定量获取被测物理量、几何尺寸等参数数值的仪器统称,覆盖从微观到宏观、从工业到科研等各类检测场景,品类非常丰富。结合你之前的询问,这里聚焦工业检测领域常见测量仪分类做梳理:
按测量用途分类
表格
类型 核心测量对象 典型产品 主要应用场景
尺寸测量仪 长度、直径、角度、轮廓 影像测量仪、三坐标测量机、一键闪测仪 机械零件、电子元器件、注塑件尺寸检测
密度物性测量仪 密度、堆积密度、松装密度 堆积密度测量仪、振实密度仪、密度比重计 粉末颗粒、化工原料物性检测
流量测量仪 流体(液体/气体)流量流速 电磁流量计、雷达流量计、涡轮流量计 工业管道、河道水文流量监测
坐标几何测量仪 三维尺寸、形位公差 三坐标测量机、关节臂测量机 精密模具、机械零件形位公差检测
膜厚光学测量仪 薄膜厚度、光学参数 椭偏仪、膜厚仪 半导体、光学镀膜行业薄膜厚度检测
按测量用途分类
表格
类型 核心测量对象 典型产品 主要应用场景
尺寸测量仪 长度、直径、角度、轮廓 影像测量仪、三坐标测量机、一键闪测仪 机械零件、电子元器件、注塑件尺寸检测
密度物性测量仪 密度、堆积密度、松装密度 堆积密度测量仪、振实密度仪、密度比重计 粉末颗粒、化工原料物性检测
流量测量仪 流体(液体/气体)流量流速 电磁流量计、雷达流量计、涡轮流量计 工业管道、河道水文流量监测
坐标几何测量仪 三维尺寸、形位公差 三坐标测量机、关节臂测量机 精密模具、机械零件形位公差检测
膜厚光学测量仪 薄膜厚度、光学参数 椭偏仪、膜厚仪 半导体、光学镀膜行业薄膜厚度检测
| 产品代码 | 23 |
|---|---|
| 产品名称/型号 | [23] Lea-Nurse 比表面积测量装置 |
| 电源 | 100V,100VA,50/60Hz |
| 比表面积测量范围 |
1,000–30,000 平方厘米/克 |
| 差压表 |
压力测量范围:0 至 20,000 kPa 分辨率为 0.01 kPa |
| 尺寸 | 宽280 x 深250 x 高452毫米 |
| 重量 | 约10公斤 |
产品概述
用于测量比表面积的仪器,测量范围为 1,000 至 30,000 cm²/g

