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thick800A镀层测厚仪注意事项

发布时间:2022/01/03 10:31:59 发布厂商:科迈斯(深圳)科学仪器有限公司 >> 进入该公司展台

thick800A镀层测厚仪注意事项

THICK800A镀层测厚仪可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性涂层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等) 及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。涂镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点,是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器,广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。

  一、THICK800A镀层测厚仪控制电脑与操作柜电路板(SFC,SDAM,DI,AI )连接失败。

  1、请检查操作柜本地远程按钮是否在远程档,按钮灯亮就是远程。

  2、如果已是远程档还是连不上,请在电脑上的任务管理器里关闭测厚仪软件,再从新启动软件。OK

  3、如果关闭软件还是连不上,请关闭测厚仪软件,再关闭测厚仪扫描架电源(电源开关就是在测厚仪操作柜里的空开)通电1分钟后再启动测厚仪软件。

  二、在操作不当时造成系统死机的解决方法

  1、请在电脑上的任务管理器里关闭测厚仪软件,再从新启动软件。

  2、如果关闭软件从新打开软件后还是启动不了测厚仪,请关闭测厚仪软件,再关闭测厚仪扫描架电源,1分钟后再送电,送电两分钟后再启动测厚仪软件。

  三、描架系统不得电,请检查操作柜保险是否烧坏。

  四、THICK800A镀层测厚仪系统的日常维护

  1、在产线检修或长时间无生产任务时请关闭测厚仪扫描架的电源,以及测厚仪电脑,待下次开机时提前一小时给测厚仪通电及打开电脑,开机后板型稳定后就可使用测厚仪了。

  2、水冷却机温度设定为30度,调试时已设好,请勿更改,一个月给水冷却机加一次水,加满为止。

  3、定期给扫描架轴承及导轨滑块加润滑油,一般为三个月加一次。

  4、加润滑油后请检查扫描架传动部分是否完好,是否有异常声音发出。

  五、THICK800A镀层测厚仪操作工看到板型不好的带钢从锌锅出来时请停止使用测厚仪,以免带钢撞击到测厚仪传感器。待板型平稳后再使用测厚仪

  THICK800A镀层测厚仪原子的特性由原子序来决定,亦即质子的数目或轨道中电子的数目,即如图所示特定的X-射线能量与原子序间的关系。K辐射较L辐射能量高很多,而不同的原子序也会造成不同的能量差。

  覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。

  THICK800A镀层测厚仪是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

  随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,是工业和科研使用总线广泛的测厚仪器。

  THICK800A镀层测厚仪测量步骤:

  标记:用标记笔在所测量的涂层表面上作一小的比色标记。

  划痕:按刀头朝下,放大镜视孔朝前的姿势抓紧仪器,将刀头放在标记正前方不远的地方,此时两个导位螺栓和刀头贴紧涂层表面,轻施压力让刀头保持直线划过标记,且划透涂层接触到底材即可。

  数格:打开放大镜视孔旁边的灯泡开关,将放大镜聚焦在标记上的划痕上,调节底部的调焦旋钮找到总线佳的焦距;旋转上部的视孔筒和稍微调整仪器的位置使任意一长刻度线和面漆标记划痕线直线重叠,然后从左至右数小刻度格数,直到第二层漆层或底材,此为单层或多层的小格数。

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Thick800A X射线测厚仪介绍

       Thick800AX射线测厚仪是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。

X射线测厚仪性能特点

1、上照式 
2、测试组件可升降 
3、高精度移动平台
4、小准直器 
5、高分辨率探头
6、可视化操作 
7、自动定位高度
8、自动寻找光斑 
9、鼠位测试点
10、良好的射线屏蔽
11、大样品腔设计
12、测试口安全防护

X射线测厚仪技术指标

型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。 
一次可同时分析多24个元素或五层以上镀层。
元素分析检出限可达2ppm,分析含量一般为2ppm到99.9%。
镀层厚度薄可达0.005um,一般在20um内(不同材料有所不同)。
小孔准直器(小直径0.1mm),测试光斑在0.2mm以内。
高精度移动平台(定位精度小于0.005mm)。
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多次测量重复性可达0.05um(对少于1um的外层Au)。
长期工作稳定性为0.1um(对少于1um的外层Au)。
温度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。 
仪器尺寸:576 x 495x545 mm
重量:90 kg

X射线测厚仪标准配置

开放式样品腔。
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。 
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

X射线测厚仪应用领域

黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。



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