Optris PI 1M 是一款融合了创新技术与高性价比的短波红外热像仪，专为解决非接触式温度测量中的难题而生。它工作在 0.85 – 1.1μm 的短波光谱范围内，特别擅长捕捉热钢、铁、铜、黄铜、半导体及陶瓷等材料的精确表面温度。
核心优势：短波技术带来的*测量
在长波红外波段，金属和光亮表面通常表现出低且多变的发射率，这往往导致测量数据不稳定。Optris PI 1M 通过采用短波技术，*解决了这一痛点：
-
金属测量的理想选择：大多数金属材料在短波范围内的发射率较高。根据普朗克辐射定律，短波范围内的红外辐射强度显著增加，从而大大降低了发射率波动对测量结果的影响。
-
*的重复性与准确性：对于高温下的光亮材料，PI 1M 能提供比长波热像仪更可靠、更精确的读数。
-
广泛的量程：它支持 450°C 至 1800°C 的宽温区测量，且无需进行分段测量，简化了操作流程。
灵活的成像性能与帧率
PI 1M 具备*的距离系数比，即使在远距离也能*定位测量点。为了适应不同的工业场景，它提供了多种分辨率与帧率的组合模式：
-
高分辨率模式：764 x 480 像素 @ 32 Hz，适用于捕捉细节丰富的静态或慢速热图像。
-
高速模式：382 x 288 像素 @ 80 Hz，能清晰捕捉快速移动物体的热特征。
-
极速/线扫描模式：
-
72 x 56 像素 @ 1 kHz，用于监控极快的温度变化。
-
764 x 8 像素 @ 1 kHz 的宽子图像模式，专为连续生产线的线扫描应用设计，可精确监控卷材或传送带上的温度分布。
强大的软件生态与连接性
该设备通过 USB 接口与计算机无缝连接，并依托强大的软件生态系统提升工作效率：
-
PIX Connect 软件：提供线扫描、图像合并等高级功能，是工艺工程师和研究人员进行数据分析的得力助手。
-
开发工具包 (SDK)：允许系统集成商开发定制化的软件解决方案，满足特定应用需求。
坚固耐用，适应严苛环境
Optris PI 1M 在德国精心设计与制造，旨在应对苛刻的工业环境。为了保护设备并确保长期稳定运行，它支持多种*配件：
-
水冷外壳：可将热像仪的操作环境温度耐受度提升至 315°C，适用于极高温度的工业现场。
-
空气净化装置：有效防止灰尘和污染物附着在镜头上，确保在恶劣环境下也能保持成像清晰。
-
全套安装配件：提供丰富的机械安装件、电气接口和连接电缆，确保设备能轻松集成到各类现有系统中。
红外热像仪：https://www.shphgd.com/products_details_id_15.html
京公网安备 11010802023672号
