电子探针显微分析仪（EPMA）在钢铁、汽车、电子元件和电池材料等各个工业领域中，作为研发和质量保证工具的应用日益广泛。它们在地球与行星科学、材料科学等学术领域也得到广泛应用，并有望为矿物和资源能源研究以及各种新材料的研究等前沿研究领域做出贡献。因此，市场对操作简便快捷且在局部痕量元素分析中保持高性能的设备有着迫切的需求。JXA

-iHP200F 和 JXA-iSP100 是进一步升级的集成式 EPMA，能够满足这些需求，实现从观测到分析的更高效操作。

*EPMA 指电子探针显微分析仪。

特征
打开

自动装填功能确保支架牢固插入！快速找到您想要观察的区域！
样品导入和样品架光学图像（载物台导航图像）采集只需一个按钮即可完成。
分析区域可从载物台导航图像中。

分析

借助全面的自动功能，任何人都可以获得高质量的 SEM 图像。
使用易于使用的 EPMA 可以立即进行元素分析，它能够处理所有繁琐的设置。
通过将光学显微镜的自动对焦功能与*高精度/高速扫描电镜（SEM）系统的自动功能相结合，任何人都能获得高质量的SEM图像。
“实时分析”功能允许在观察过程中进行筛选分析。“简易电子探针显微分析（EPMA）”功能使即使是初学者也能轻松操作EPMA。“EPMA-XRF集成”功能允许根据XRF数据设置EPMA条件。WD/ED集成提高了分析效率。SEM、EDS、XRF、WDS和光学图像的集成提升了操作性。

简易的EPMA设置界面和数据显示

EDS实时分析

通过WD/ED集成缩短分析时间的示例

集成：通过这些设备识别出的元素可以通过按一下按钮来设置光谱晶体的组合。

自我计划

内置 18 个校准样本，可实现高效校准。
内置的“光谱仪校准功能”可减轻定期进行光谱仪校准的工作量，并避免校准样品设置过程中的人为错误。
通*间进行仪器校准，可以提高效率。
“维护通知功能”可确保在必要时进行维护，使仪器保持*状态。

内置18种校准样品

维护通知功能“客户支持工具”

JXA-iHP200F 配备了镜头内置肖特基 Plus 电子枪。
内置于透镜内的肖特基Plus型电子枪可在低加速电压下实现高分辨率，提供高倍率扫描电镜图像和高空间分辨率的分析结果。
热离子电子枪可在高电流下长时间保持稳定性，非常适合在短时间内分析痕量元素或在夜间运行中分析大量样品。

相关链接
稿（2019年9月3日）

*电子探针显微分析仪 JXA-iHP200F 和 JXA-iSP100 现已上市——集成式 EPMA 的进一步发展——

JXA-iHP200F/JXA-iSP100 特别网站

应用
与 JXA-iHP200F 相关的应用
CLEMnote

软X射线发射光谱手册 7.0版（2021年12月）

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利用FE-EPMA进行敏化分析