涂层测厚仪 LEPTOSKOP 2042

产品描述

根据探头的不同，手持式设备具有清晰排列的显示屏，可确定可磁化基体上非磁性层的厚度（根据DIN EN ISO 2178）以及使用涡流原理确定非磁性导电基材上的非导电层的厚度 （根据DIN EN ISO 2360）。

外部探头具有多种型号，因此可以解决*多样化的测试问题。

00:06 | 00:15

关键特点

多种校准选项

多种显示模式，可*适应测量任务 *

极限值输入和监控 *

测量值存储 * 与 Windows 下一样简单的文件管理

多样化的统计评估选项

Windows 程序中的数据传输，可选择使用 PC 程序软件 iCom 软件或者EasyExport

*视扩展阶段而定

版本

LEPTOSKOP 2042 (订货号: 2042.001)

设备扩展阶段

模块“ Statistik”（订货号：2911.001）

模块“ Statistik und Datenspeicher”（订货号：2911.002）

标准包装

Fe 基本包装 (订货号: 2042.901)

NFe 基套装(订货号: 2042.902)

Fe/NFE基套装 (订货号: 2042.904)

统计数据包

统计数据包 Fe (订货号: 2042.911)

统计数据包NFe (订货号: 2042.912)

Fe / NFe组合统计软件包 (订货号: 2042.914)

Data 数据包

Data数据包 Fe (订货号: 2042.921)

Data 数据包NFe (订货号: 2042.922)

Fe / NFe组合统计软件包 (订货号: 2042.924)

The LEPTOSKOP 2042 在坚固的保护箱中

更多信息

详细彩页:

更多信息和附件:

涂层厚度测量配件

数据管理软件ICOM

数据传输软件EASYEXPORT