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   力学类仪器校准:砝码、电子称、电子天平、压力表、扭力批、测力仪、推拉力计、拉压力试验机、摆锤式冲击试验机、布洛维氏硬度计、振动试验台、胶带剥离试验机、纸板环压试验机、冲击试验机、破裂强度试验机、数字式渗水性测定仪、拉链往复试验机等。

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数显压力表的型号选用说明MAT900为通用型；适用于非防爆场所。MAT900B为本安防爆型；适用于防爆场所。数字压力表的产品特点大屏幕；大屏幕液晶显示，读数直观清晰，适应环境温度宽。
   数显压力表常见问题和处理办法：
   压力表是由接头，弹簧管，机芯几个主要部件构成。压力表的焊接主要有铅锌焊接，白银焊接，氩弧焊接，特种焊接等等，仪表的单簧管正常工作是10万次。其工作原理是通过弹簧管变形，机芯（扇型齿与中心齿轮工作）带动指针在面版的刻度上显示被测介质压力。

工程师用四通道在线编程器P8-ISP对客户样机编程时，发现现象确如客户所说的一致。凭着丰富的编程调试经验，我们的工程师将问题为芯片被误操作，导致被加密，查阅芯片技术手册后将根源锁定到2个寄存器上。为了解决这个问题，工程师将P8-ISP的时序代码作相应的修改，在执行擦除、编程操作之前，将2个寄存器的置位顺序做了调整，使MCU处于解密状态，确保芯片在编程过程中不会被误加密。采用更新好时序的P8-ISP来烧写MCU后，客户的汽车电子标签(OBU)烧片效率和良品率都有了明显提高，百万套OBU量产也不再是难事。



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传感器早已渗透到诸如工业生产、环境保护、医学诊断、生物工程、等等极其之广泛的领域。可以毫不夸张地说，几乎每一个现代化项目，都离不开各种各样的传感器。下面就用电阻应变计测试方法测定加速度传感器的电压灵敏度。首先我们需要了解是加速度传感器的原理：它是基于牛顿第二运动定律，可以用重力分析法对加速度传感器进行。测量系统由安装在刚性基础上带有缓冲垫的力传感器，装有加速度传感器的圆柱形钢质量块，以及导轨。 
的仪表放大器价格通常比较贵，于是我们就想能否用普通的运放组成仪表放大器？是肯定的。使用三个普通运放就可以组成一个仪用放大器。电路如下图所示：标准三运放仪表放大器电路输出电压表达式如图中所示。看到这里大家可能会问上述表达式是如何导出的？为何上述电路可以实现仪表放大器？下面我们就将探讨这些问题。在此之前，我们先来看如下我们很熟悉的差分电路：用单运放实现仪表放大器的差分放大器电路功能框图如果R1＝R3，R2＝R4，则VOUT=(VIN2—VIN1)(R2/R1)这一电路提供了仪表放大器功能，即放大差分信号的同时共模信号，但它也有些缺陷。既然瞬时阻抗像电阻，那我们就给负载并联一个电阻，让其阻值和特性阻抗相等，这样信号就不会反射回来，而是被电阻吸收。您的电路也就清净了。这种方法叫做终端匹配。的50Ω特性阻抗大小会影响信号传输功率、传输损耗、串扰等电气性能，而其板材和几何结构又影响制造成本，这种情况只能找一个折中值。而50Ω正是同轴线的传输功率、传输损耗以及制造成本的一个平衡点。所以大多数高速信号都会采用50Ω特性阻抗系统，形成标准并沿用至今，成为使用广泛的一种阻抗标准。


 

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    1.接通电源，在给定输入压力信号后，检查变送器输出端电压信号的状态。若无输出电压，应首先检查电源电压是否正常;是否符合供电要求;电源与变送器及负载设备之间有无接线错误。如果变送器接线端子上无电压或极性接反均可造成变送器无电压信号输出。排除上述原因，则应进一步检查放大器板线路中元件有无损坏问题;线路板接插件有无接触不良现象，可采取对照正常仪表的测量电压与故障仪表对应的测量电压相比较的方法，确定故障点，必要的情况下可更换有故障的放大器板。在对流量型变送器检查时，对J型放大器板应特别要注意采取防静电措施。
    2.接通电源，在给定输入压力信号后，若变送器输出过高(大于10VDC)，或输出过低(小于2.0VDC)，且改变输入压力信号和调整零点、量程螺钉时输出均无反应。对于这类故障，除检查变送器测量部分敏感部件有无异常外，应检查变送器放大器板上“振荡控制电路部分”工作正常与否。高频变压器T1-12之间正常峰值电压应为25~35VP-P;频率约为32kHz。其次检查放大器板上各运算放大器的工作状况;各部分的元器件有无损坏问题等。此类故障需要更换放大器板。
    3.变送器在线路设计和工艺装配质量上要求都十分严格，在实际使用中对出现的线路故障，经检查确认后与生产厂家联系更换其故障线路板，以确保仪表长期工作的稳定性和可靠性。stwg139wei
 

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灯具分布光度计是一种大型的精密光学测试设备，是灯具分布光度测量中的重要设备。传统的分布光度计主要为机械式结构，通过机械控制旋转测量整个三维空问的灯具光强分布。目前在发展中的这类传统分布光度计主要有旋转反光镜式分布光度计。运动反光镜式分布光度计和旋转灯具式分布光度计等几种结构形式℃IEl27一1997对LED的光学和电学测试进行了要求，也是采用传统光度测量方法进行LED测试的依据。近年来，随着CCD成像技术的发展与成熟，同时由于其可视化效果好，简易方便，人们开始逐渐寻求采用成像技术来进行光度测量，目前已有可用于基于成像技术的亮度计，辅助传统类型的亮度计。

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