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世通耿Ｓ分享：千分尺的正确测量方法

千分尺使用注意事项

01. 千分尺是一种精密的量具，使用时应小心谨慎。

02. 有些千分尺为了防上手温使尺架膨胀引起微小的误差，在尺架上装有隔热装置，操作时应手握隔热装置，而尽量少接触尺架的金属部分。

03. 使用千分尺测同一长度时，一般应反复测量几次，取其平均值作为测量结果

04. 千分尺用毕后，应用纱布擦干净，在测砧与丝杆之间留出一点空隙，放入盒中，如长期不用可抹上黄油或机油，放置在干燥的地方。
电路板或格式电子系统中有各式各样的电源电路，隔离型、非隔离型，AC-DDC-DC，升压、降压等。他们都是为负载供电，负载多种多样，对应电源也多种多样。1电源系统概述这里讲述的电源是指一种电能转换装置。我们常见电源家族如.1所示，不同颜色连接线代表不同形式的电能，它们之间存在电能之间的转换，而实现这种电能转换的装置就是电源。常见小功率电源家族一览图从.1中可以看出，电池和市电一般不能直接给电子系统供电，使用时需要先将电能转换到Power1线路中，以提供给其它模块使用。

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MPT1000电机测试平台对于堵转电流测试，有一套完整的方案。堵转测试分为常规堵转测试和国标堵转测试。常规堵转测试，是经市场检验的易于使用和愿意接受的方案，过程简单，成本较低。当设备准备就绪后，给被测电机以额定电压，使其运行在空载状态下，运行稳定后给电机加载并逐渐增加负载，直至被测电机转速降低并堵转；或者采用MPT电机测试系统为客户定制的堵转件直接将电机堵转，再给电机施加额定电压。在电机停转的短时间内，利用高速、高精度数据采集系统采集被测电机的扭矩、电压、电流等数据并计算得出关于电机的测量参数和计算参数，并通过功率分析仪和工控机显示在屏幕上并储存下来，所存储的数据均可方便导出和打印，大大方便电机堵转数据的分析。
千分尺主要有以下部分组成： 测砧， 丝杆，游标刻度，棘轮，固定套筒，锁紧螺母，支架等组成。

01. 内径千分尺在测量及其使用时，必需用尺寸**的接杆与其测微头连接，依次顺接到测量触头，以减少连接后的轴线弯曲。

02. 测量时应看测微头固定和松开时的变化量。

03. 在日常生产中，用内径尺测量孔时，将其测量触头测量面支撑在被测表面上，调整微分筒，使微分筒一侧的测量面在孔的径向截面内摆动，找出尺寸。然后拧紧固定螺钉取出并读数，也有不拧紧螺钉直接读数的。这样就存在着姿态测量问题。姿态测量:即测量时与使用时的一致性。例如:测量75,600/0.01mm的内径尺时，接长杆与测微头连接后尺寸大于125mm时。其拧紧与不拧紧固定螺钉时读数值相差0.008 mm既为姿态测量误差。

04. 内径千分尺测量时支承位置要正确。接长后的大尺寸内径尺重力变形，涉及到直线度、平行度、垂直度等形位误差。其刚度的大小，具体可反映在"自然挠度"上。理论和实验结果表明由工件截面形状所决定的刚度对支承后的重力变形影响很大。如不同截面形状的内径尺其长度L虽相同，当支承在(2/9)L处时,都能使内径尺的实测值误差符合要求。但支承点稍有不同，其直线度变化值就较大。

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清除OCP即可重新启动输出。输出功率较低的电源与输出功率较高的电源相比,其噪声更低。那些用于测试LED阵列的电源,其输出噪声通常都小于350uVrms。E36312A三路输出电源在所有三路输出上均有20mA的量程，非常适于测量低电流。使用它的低量程测量小于20mA的电流时，我们可以获得更高的分辨率和精度。技巧2表征不断变动的功耗状态许多设备都被设计为能够在不同的时间使用不同的功耗。某些设备可在工作状态与睡眠状态之间切换功耗，从而延长电池的使用寿命。


ENOB=（SINAD-1.76dB）/6.2，其中1.76为理想ADC的量化噪声，6.2为将log2转化为log1的系数比。很明显，SINAD越大，ENOB越大，而提升SINAD的方法就是重点关注与测试精度有关的电路。在数字示波器的架构中，与测试精度有关的电路有：前端采集电路、ADC采样电路。被测信号经前端采集电路进行调理后传输给ADC进行采样。其中前端采集电路及ADC采样电路对ENOB有较大影响，实际工作时，偏置误差，非线性误差，增益误差，随机噪声，甚至还有ADC交织引起的噪声都会增大ENOB。ENOB说明了什么ENOB是衡量ADC性能的标尺，若示波器ENOB指标好，那么偏置误差、增益误差、非线性度等都较小，同时带宽噪声也较低。如果主要被测信号是正弦波信号，那么ENOB就需要重点关注。通常示波器都由前端电路衰减器、放大器等信号调理电路、ADC采样电路组成，在设计的时候，会在前端采用各种射频技术，各种频率响应方式，实现的频响平坦度，以便ADC采样时失真，增大ENOB指标。如何判断ENOB的大小3.11.底噪示波器在不同垂直档位及偏置下的底噪大小是评估示波器测量质量的一个重要依据，通过观测底噪大小，可以判断前端采集电路和ADC采样电路设计的优劣，因为示波器的底噪会增加额外的抖动并较小设计裕量，对测试结果造成较大的影响。

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