PA‑300‑NIR 近红外二维双折射 / 残余应力测量系统玉崎科学原装供应

2026/09/03 18:54:46

PA‑300‑NIR 近红外二维双折射 / 残余应力测量系统

：Photonic‑Lattice（フォトニックラティス，日本）

PA‑300‑NIR 为 PA 系列近红外台式机型；硬件架构与 PA‑300 一致，将测量光源改为850 nm 近红外波长；用于可见光不透明、但近红外可透过的低相位差材料；500 万像素光子晶体偏振传感器，非接触无损快照测量，3‑10 秒输出二维双折射云图。

区分：PA‑300（520 nm 可见光）测普通玻璃；PA‑300‑NIR（850 nm）测红外透光肉眼不透明材料；高相位差红外样品选用 WPA‑200‑NIR 三波长版本

核心原理

像素级光子晶体偏振阵列传感器，无旋转检偏器运动部件；采用850 nm 近红外单波长采集偏振信息；输出相位差 (nm)、光轴角度 (°)；选配数据处理选件，输入材料光弹系数换算等效应力 MPa

关键技术参数

表格

项目	参数
测量波长	850 nm 近红外
相位差量程	0‑213 nm
传感器像素	2056 × 2464（约 500 万像素）
标准镜头视场	30×36 mm ～100×133 mm；选配变焦镜头 5.5×6.6 mm～25×30 mm 微区观测
重复精度	相位差 σ 1.0 nm
测量时间	3‑10 s / 全视场
输出	相位差 (nm)、光轴角度 (°)；应力 MPa（选配）
软件	PA‑View；云图、线剖面、ROI 统计、CSV 导出、远程 API 接口
整机尺寸 (W×D×H)	270 × 337 × * 631 mm
整机重量	约 12 kg
接口	GigE；电源 AC100‑240V 50‑60Hz

✨主要特点

近红外波段测量：专门针对可见光下发黑 / 不透明，但 850 nm 红外可透过的材料，可见光 PA‑300 无法测量此类样品。
继承 PA 系列 500 万像素高分辨率，适合微弱双折射定量检测；快照式全视场成像，无运动部件，维护简单稳定。
支持变焦镜头，兼顾大面积全域检测与局部微区观测。
❗为单波长机型，不支持三波长、不支持高位相差扩展选件；样品相位差不可过 213 nm；高相位差红外样品选用 WPA‑200‑NIR（红外三波长）

🎯典型应用样品

✅硫系玻璃红外镜头（Chalcogenide lens）；LiDAR 红外光学元件、红外窗口片；

✅可见光不透明的特种红外透光树脂；

✅评估成型、加工带来的内部残余应力、注塑熔接痕应力分布。

⚠️选型提示

普通玻璃、晶圆等可见光透明样品 → 标准 PA‑300；
肉眼不透明、近红外透光低相位差样品 → PA‑300‑NIR；
近红外透光但相位差大的样品 → WPA‑200‑NIR（红外三波长，大位相差量程）；
需要微区红外应力测量：可对接 PA‑micro‑S 机头搭配红外显微镜光路。

🧩原厂可选配件

变焦镜头、应力 MPa 数据处理选件、遮光罩、视场校正功能、远程控制 API 接口

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