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首页 >玉崎科学仪器(深圳)有限公司> 技术文章> WPA‑200‑L 二维双折射 / 残余应力测量系统玉崎科学仪器 原装现货供应
WPA‑200‑L 二维双折射 / 残余应力测量系统玉崎科学仪器 原装现货供应
2026/09/03 17:09:35
玉崎科学仪器(深圳)有限公司 原装现货供应WPA‑200‑L 二维双折射 / 残余应力测量系统
:Photonic‑Lattice(フォトニックラティス,日本)
WPA‑200‑L 属于 WPA‑200 系列大载台版本;光学测量性能与 WPA‑200 一致,仅放大样品承载平台,用于中‑大尺寸高相位差透明工件;非接触无损全域面测量,2‑5 秒输出完整应力云图。
核心原理
搭载光子晶体偏振阵列传感器,无旋转检偏器运动部件;采用523 nm / 543 nm / 575 nm 三波长解包裹技术,解决高相位差相位缠绕;输出相位差 (nm)、光轴角度 (°);选配数据处理选件换算等效应力 MPa
关键技术参数
| 项目 | 参数 |
|---|---|
| 测量波长 | 523 nm、543 nm、575 nm(三波长) |
| 相位差量程 | 0‑3500 nm;选配高相位差选件*可达 10000 nm |
| 传感器像素 | 384 × 288(约 11 万像素) |
| 标准镜头视场 | 33×44 mm ~ 240×320 mm(*样品 240 × 320 mm) |
| 选配变焦镜头视场 | 3.0×4.0 mm ~14.2×19.0 mm(局部微区观测) |
| 重复精度 | 相位差 σ 10 nm |
| 测量时间 | 2‑5 s / 全视场 |
| 输出 | 相位差 (nm)、光轴角度 (°);应力 MPa(选配) |
| 软件 | WPA‑View;云图、线剖面、ROI 统计、CSV 导出 |
| 整机尺寸 (W×D×H) | 430 × 487 × * 977 mm |
| 整机重量 | 约 23 kg |
| 接口 | GigE;电源 AC100‑240V 50‑60Hz |
✨主要特点
-
大样品承载能力:相比 WPA‑200 标准型,台面与*测量幅面显著加大,可直接检测大尺寸光学膜、导光板、大尺寸注塑面板,无需裁切样品;
-
光学性能继承 WPA‑200 全部能力,擅长高双折射树脂、厚塑胶;
-
全视场一次成像,无需逐点扫描,测量速度快;无运动光学部件,维护简单;
-
支持变焦镜头,兼顾大样品整体检测与局部微区应力观察;
-
可扩展:应力换算选件、高相位差扩展套件、遮光罩、远程 API 接口。
🎯典型应用样品
✅大尺寸导光板、幅宽光学薄膜、COP/PC 大尺寸树脂板材;✅汽车透明注塑面板、VR/AR 大尺寸光学元件;✅评估大面积样品注塑残余应力、冷却应力分布、成型工艺均匀性。
⚠️选型提示
小尺寸样品选 WPA‑200;接近 A3 幅面选 WPA‑200‑L;接近 500 mm 大样品选 WPA‑200‑XL;
需要更高传感器分辨率、捕捉微小应力波动,优先升级新一代 WPA‑300‑L;
低相位差玻璃、晶圆类基材选用 PA 系列。
🧩可选配件
变焦镜头、应力 MPa 数据处理选件、遮光罩、高相位差扩展套件、远程控制 API 接口。
Photonic‑Lattice 采购渠道
玉崎科学仪器(深圳)有限公司 原装现货供应
负责人:¹⁵⁸¹⁵⁵⁵099⁸ (林经理)
公司网站:www.shashinkagaku.com
地址:广东省深圳市龙华新区龙华街道906号电商集团7楼整层玉崎科学

