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Photonic‑Lattice光子晶体偏振成像传感器玉崎科学仪器原装供应

2026/09/03 14:57:46

Photonic‑Lattice（株式会社フォトニックラティス，日本）光子晶体偏振成像传感器玉崎科学仪器原装供应

定位：二维双折射 / 残余应力无损面测量设备厂商，光子晶体偏振成像传感器；数秒输出整片样品应力云图，面向半导体、光学、显示行业；直接对标日本三鹰光器 Mitaka。

测量原理：偏振光非接触无损检测；输出相位差（位相差 nm）、光轴角度 (°)、换算应力 (MPa)，生成样品全域双折射 / 应力分布云图；无需切片、不损伤工件。

软件：WPA‑View / PA‑View；支持云图、线剖面分析、区域统计、应力换算、数据导出、远程控制

四大产品线完整整理

一、WPA 系列｜大位相差・高应力样品（三波长：523/543/575 nm）

量程：0‑3500 nm；可选购高相位差选件扩展至 10000 nm；适配树脂、厚塑胶、高应力工件。

WPA‑200：标准台式，实验室通用机型
WPA‑200‑L：大载台，大尺寸基板、光学膜
WPA‑200‑XL：大台面，*样品约 500 mm
WPA‑300 / WPA‑300‑L：新一代，偏振传感器分辨率提升 5 倍，捕捉极微小应力变化，工业质控主力机型

二、PA 系列｜低相位差・高精度（单波长 520 nm，量程 0‑130 nm；500 万像素）

面向低应力精密基材，适合应力微弱的硬质透明基材。

PA‑300：台式主机，玻璃、晶圆、蓝宝石、SiC 衬底
PA‑micro：显微镜搭载微区测量；可配奥林巴斯 / 尼康显微镜，测芯片局部、微小光学元件，微米级区域应力观测。
PA‑300‑NIR：近红外版本（850 nm），测量可见光不透、红外透光材料（LiDAR 元件、深色树脂）.。
PA‑300‑MT：分体式模块，可集成到产线设备内部。

✅典型应用：半导体晶圆、石英、光掩模板、蓝宝石、SiC、车载盖板玻璃。

三、KAMAKIRI 系列｜产线在线 / 离线扫描机型（Photron 高速相机 + Photonic‑Lattice 偏振芯片）

用于薄膜走带实时扫描检测，打通实验室研发→量产质控，具备 OK/NG 判定、缺陷位置记录、实时报警。

KAMAKIRI‑X‑Stage：离线台式线扫描机型；算法与在线机型一致；产线导入前的入门验证机型，大样品离线抽检；可后期升级为完整在线系统。
KAMAKIRI‑MEM‑LS：在线定点条带扫描，采集薄膜幅宽局部区域，替代抽样检测。
KAMAKIRI‑STS‑LS：全幅宽连续在线检测；整卷薄膜 * 全覆盖检测，光学薄膜工厂量产主力机型。

✅典型应用：TAC/COP/PET/PVA 光学膜、PI 薄膜、挤出流延薄膜产线。

四、其他衍生单元

CRYSTA 偏振高速相机：独立偏振成像相机，可集成第三方设备；
NIR 选件：WPA‑200‑NIR，高应力红外材料测量；
Rheo‑Iris：与安东帕流变仪联动，流变‑偏振成像同步测量。

📊WPA vs PA 核心选型对比表

项目	WPA 系列	PA 系列
测量波长	三波长 523/543/575 nm	单波长 520 nm（‑NIR 为 850nm 近红外）
相位差量程	0‑3500 nm（可选扩展 10000 nm）	0‑130 nm
像素	WPA‑300 分辨率较 WPA‑200 提升 5 倍	500 万像素
样品特征	高双折射、厚树脂、注塑件	低双折射、玻璃、晶圆、硬质基材
代表型号	WPA‑300‑L	PA‑300‑NIR、PA‑micro

⚔️对标：Photonic‑Lattice VS Mitaka（三鹰光器）

对比项	Photonic‑Lattice	Mitaka 三鹰光器
核心技术	光子晶体偏振阵列传感器	相位差调制旋转检偏器
测量速度	快，数秒完成全视场成像	中等
高相位差能力	* (WPA 三波长，* 10000nm)	中等
微区测量	PA‑micro 接显微镜	MLP 系列显微模块
在线产线方案	完整 KAMAKIRI 量产系列	以实验室台式为主，在线方案较少
软件	全域云图、应力换算、剖面分析	相位差、光轴角度测量

Photonic‑Lattice（株式会社フォトニックラティス，日本）供货采购渠道

玉崎科学仪器（深圳）有限公司原装现货供应

负责人：¹⁵⁸¹⁵⁵⁵099⁸ （林经理）
公司网站：www.shashinkagaku.com
地址：广东省深圳市龙华新区龙华街道906号电商集团7楼整层玉崎科学

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