扫查面盲区高度测定试块价格

启航检测科技公司生产的 扫查面盲区高度测定试块依据扫查面盲区高度测定的要求而设计，适用于测定初始扫查面的盲区高度。

扫查面盲区高度测定试块是用于测定超声检测中初始扫查面盲区高度的试块，在NB/T 47013.10-2015《承压设备无损检测 第10部分：衍射时差法超声检测》中有相关规定。以下是对它的具体介绍：

作用：为制定检测工艺时确定扫查面盲区提供准确的数据支撑。由于TOFD检测技术受信号脉冲宽度的限制，近表面缺陷的端点衍射波与直通波发生重叠，形成扫查面盲区，导致缺陷定位困难，而该试块可帮助确定盲区范围，以采取有效措施解决盲区内缺陷漏检的问题。

设计特点：试块上有距离扫查面不同深度、不同长度的8个Φ2mm横孔，对加工工艺要求较高。此外，还有*TOFD扫查面盲区对比试块，采用深度连续变化的矩形槽，所用材料需经过MT（磁粉检测）、UT（超声检测）、PAUT（相控阵超声检测）等方法严格检测，声束通过区不得有大于等于Φ2mm的平底孔当量的缺陷存在。该*试块采用电火花数控线切割机床加工而成，加工工艺简单，成本较低，数控加工精度可控，有条件时可在试块上表面刻上长度，并计算出对应长度位置处盲区的高度。

使用方法：使用时，将超声检测设备的探头放置在试块的扫查面上，通过检测试块上不同深度的横孔或矩形槽所产生的超声信号，来确定超声检测系统在当前检测参数下的扫查面盲区高度。例如，对于*试块，可利用三角关系计算人工缺陷至试块表面的高度和该人工缺陷垂直高度的大小，从而验证扫查面盲区真实准确的数据，而且能够验证任何检测条件下实际盲区的大小。

扫查面盲区高度测定试块应用

扫查面盲区高度测定试块