差热分析仪 型号DF275-DZ3320A库号D410374

库号：D410374   

仪器特点：
差热分析是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温
度关系的一种。 差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)
随温度或时间的变化关系。 在 DTA 试验中，样品温度的变化是由于相转变
或反应的吸热或放热效应引起的。如：相转变，熔化，结晶结构的转变，沸腾，
升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其
他化学反应。
参数：
1. 温度范围: 室温~1150℃
2. 量程范围: 0~±2000μ V
3. DTA 灵敏度: 0.01μ V
4. 升温速率: 0.1～100℃/min
5. 温度分辨率: 0.01℃
6. 温度准确度: ±0.1℃
7. 温度重复性: ±0.1℃
8.温度控制: 升温：程序控制
恒温：程序控制
可根据需要进行参数的调整
恒温时间任意设定
9.炉体结构: 炉体采用上开盖式结构，代替了传统的升降炉体，精 度
高，易于操作
10.气氛控制: 内部程序自动切换
11.数据接口: 标准 USB 接口 配套数据线和操作软件
12.显示方式: 24bit 色 7 寸 LCD 触摸屏显示
13. 参数标准: 配有标准物，带有一键校准功能，用户可自行对温 度
进行校正
14.软件：带多点温度校正及热焓校正;可以导出EXECL数据,PDF报告
15.工作电源: AC 220V 50Hz
16.通讯：USB 双向通信
17. 曲线扫描：升温扫描、恒温扫描、降温扫描
18.仪器液晶屏界面带三点温度校正功能，满足高中低不同温度段测 试

仪器特点：
差热分析是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温
度关系的一种。 差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)
随温度或时间的变化关系。 在 DTA 试验中，样品温度的变化是由于相转变
或反应的吸热或放热效应引起的。如：相转变，熔化，结晶结构的转变，沸腾，
升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其
他化学反应。
参数：
1. 温度范围: 室温~1150℃
2. 量程范围: 0~±2000μ V
3. DTA 灵敏度: 0.01μ V
4. 升温速率: 0.1～100℃/min
5. 温度分辨率: 0.01℃
6. 温度准确度: ±0.1℃
7. 温度重复性: ±0.1℃
8.温度控制: 升温：程序控制
恒温：程序控制
可根据需要进行参数的调整
恒温时间任意设定
9.炉体结构: 炉体采用上开盖式结构，代替了传统的升降炉体，精 度
高，易于操作
10.气氛控制: 内部程序自动切换
11.数据接口: 标准 USB 接口 配套数据线和操作软件
12.显示方式: 24bit 色 7 寸 LCD 触摸屏显示
13. 参数标准: 配有标准物，带有一键校准功能，用户可自行对温 度
进行校正
14.软件：带多点温度校正及热焓校正;可以导出EXECL数据,PDF报告
15.工作电源: AC 220V 50Hz
16.通讯：USB 双向通信
17. 曲线扫描：升温扫描、恒温扫描、降温扫描
18.仪器液晶屏界面带三点温度校正功能，满足高中低不同温度段测 试

销售REXA执行器

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