TN 60-0.01EE 超声波测厚仪

TN 60-0.01EE 超声波测厚仪

产品型号：TN 30-0.01EE, TN 60-0.01EE

TN-EE 超声波测厚仪产品简介

基于回波-回波原理的手持式超声波材料厚度测量设备。配备外部测量探头，可在不破坏涂层的情况下测量基材真实厚度。

TN-EE 超声波测厚仪产品特点

外部测量探头： 标配用于回波-回波测量的探头。

数据接口： 标配 USB 接口。

测量模式：

扫描模式： 每秒进行 10 次测量。

单点测量模式：

内部存储器： 可存储多达 20 个文件（每个文件*多 100 个测量值）。

可选测量单位： mm, inch。

双测量原理：

脉冲-回波模式： 标准超声波测厚模式。

回波-回波模式： 关键特性 - 可测量材料的实际厚度，不受表面涂层影响（例如测量带涂层管道的壁厚，无需去除涂层）。测量结果已自动补偿涂层厚度影响并直接显示。

回波-回波测量： 仅能使用标配测量探头（型号 SAUTER ATU-US12，见附件）。

标配： 操作说明书、电池、外部测量探头（Ø 10 mm）、超声波耦合剂。

坚固手提箱： 便于携带和存放。

TN-EE 超声波测厚仪产品配置

主机

外部测量探头 (Ø 10 mm, 5 MHz) × 1

超声波耦合剂 × 1

坚固手提箱 × 1

电池 (2×1.5 V AA)

TN-EE 超声波测厚仪技术参数

杭荣 光电开关MMF-T10PK

接近开关应用领域 XD20-R3...