山金原装 AE-MIC爱米克 AE-162E 高速芯片电阻测试仪

2026/07/28 09:53:59

支持小型芯片（低功耗测量）
快 0.7 毫秒（典型值）
通过热电功率抵消测量实现高精度和稳定性。
通过设置每个量程的测量值积分时间的功能，实现了快速且高度稳定的测量。
测量精度：±99.99% [5mΩ 至 109MΩ]
*测量范围：0.00 mΩ 至 200.00 MΩ
接触检查：可选择测量前/测量后/关闭
RS-232C 接口为标准配置（GP-IB 为可选配置）。
打印机输出功能为标准配置（符合 Centronics 标准）。
标准功能：设置值传输功能（允许您将相同的设置数据传输到另一台 AE-162E 并启用自动设置）。
标准设备包括电流/电压测量异常检测电路。

测量范围	标准值设置范围	测量电流	测量精度*
测量范围	标准值设置范围	测量电流	慢的	快速地
100mΩ	5mΩ 至 100mΩ	100毫安	在±0.02%±2a±2d范围内	在±0.03%±3a±2d±[2/(1+n)]d范围内
1Ω	100.1mΩ 至 1Ω	100毫安	在±0.02%±a±1天以内	在±0.02%±a±2d±[2/(1+n)]d范围内
10Ω	1.001Ω 至 10Ω	50毫安	在±0.02%±a±1天以内	在±0.02%±a±2d±[2/(1+n)]d范围内
100Ω	10.01Ω 至 100Ω	10毫安	在±0.02%±1天以内	在±0.02%±2d±[1/(1+n)]d范围内
1kΩ	100.1Ω 至 1kΩ	5mA
10kΩ	1.001kΩ 至 10kΩ	0.5mA
100kΩ	10.01kΩ 至 100kΩ	50 μA
1MΩ	100.1kΩ 至 1MΩ	5 μA		在±0.05%±2d±[1/(1+n)]d范围内
10MΩ	1.001 MΩ 至 10 MΩ	0.5 μA	在±0.03%±1天以内	±0.2%±4d±[1/(1+n)]d以内
100MΩ	10.01 MΩ 至 109 MΩ	0.05 μA	在±0.1%±2天以内	───

* d = 数字位数，n = 积分时间（毫秒），测量百分比时：α = (100 / 标准设定值 mΩ) × 0.01%，测量*值时：α = 0（加 ±1d）
* 完全屏蔽状态下的精度

测量时间	外部启动		自由奔跑
	慢的	快速地	慢的	快速地
	大约 18 毫秒至 400 毫秒。	大约 0.7 毫秒至 400 毫秒。	大约每秒 30 次到大约每秒 2 次	大约每秒 60 次到大约每秒 2 次

测量端的开路电压	15伏或更低
测量结束信号 (EOC) 脉冲宽度	1 至 250 毫秒，可连续设置。
测量方法	可在四端测量和两端测量之间切换。
判断值设定范围	百分比测量范围：±99.99%，*值测量范围：00000 至 20000
使用环境	温度：0°C 至 +50°C，湿度：80% 或以下
所需功率	交流85V至265V，50Hz至60Hz，约50VA
外部尺寸	333（宽）× 99（高）× 300（深）毫米（不含橡胶脚垫等突出部分）
重量	约3.5公斤

选项	GP-IB
	数据传输线
	• 短路终端（零欧姆标准电阻）
	• 转换适配器（3针 x 2 ⇒ 5针）

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