镀层测厚仪产品介绍

随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用X射线镀层测厚仪 向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步，镀层测厚仪。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用相当广 泛的测厚仪器。 镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。

镀层测厚仪天瑞仪器股份有限公司（深圳,江苏）92年开始做光谱仪，在X荧光光谱仪领域，一直保持国内*；仪器质量可靠，且操作简单，使用方便，已得到很多大公司（华为，美的，富士康，华硕，广达，格力，仁宝等）的认可，目前累计销售叁万多台。

镀层测厚仪如果是测量钢材、铝材、木材、玻璃、混泥土、塑胶等表面油漆层、电镀层等涂层的厚度的就是涂层测厚仪,这种测厚仪只能测量表面涂镀层厚度,而不能测量涂镀层下面底材的厚度,由于涂镀层比较薄,所以通常能到1微米甚至零点几微米。涂层测厚仪有的也叫膜厚仪或者膜厚计,按原理来分,有磁感应涂层测厚仪、涡流涂层测厚仪、超声波涂层测厚仪,专测涂层的,但是磁感应和涡流原理的涂层测厚仪通常只能测量金属表面涂层厚度,不能测量木料、塑胶、玻璃、混泥土等非金属的表面涂层.超声波涂层测厚仪刚好相反,只能测量非金属表面的涂层而不能测量金属表面涂层.

镇江*保证镀层测厚仪, 涂镀层测厚仪中F，N以及FN的区别： F代表ferrous 铁磁性基体，F型的涂层测厚仪采用电磁感应原理， 来测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层，例如：漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。 N代表Non- ferrous非铁磁性基体，N型的涂层测厚仪采用电涡流原理；来测量用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。 FN型的涂层测厚仪既采用电磁感应原理，又采用采用电涡流原理，是F型和N型的二合一型涂层测厚仪。

磁感应测量原理 采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大（如钢上镀镍）。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术，利用磁阻来调制测量信号。还采用设计的集成电路，引入微机，使测量精度和重现性有了大幅度的提高（几乎达一个数量级）。现代的磁感应测厚仪，分辨率达到0.1um，允许误差达1%，量程达10mm。

镇江*保证镀层测厚仪, 测厚仪如何选择 首先了解测厚仪类型：涂层测厚仪、超声波测厚仪、电解测厚仪、超声波涂层测厚仪、薄膜测厚仪（测厚规）、X射线测厚仪等；它可以从测量的产品是哪个部分来分类，也可以从测厚仪本身的测量原理来分类等等。 根据所测量产品的具体实际部分来分,测量产品的整体的,比如金属板、玻璃板等的厚度的是超声波测厚仪,这种仪器的称呼也是根据原理来命名的,只能测量一整块的厚度,而不能测量表面油漆层或镀层厚度,因为要测量的东西通常都在毫米以上,所以一般都是到毫米。

X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对X射线荧光的分析确定被测样品中各组分含量的仪器就是X射线荧光分析仪。由原子物理学的知识，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以其特有的能量在各自的固定轨道上运行。内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚，成为自由电子，这时原子被激发了，处于激发态。此时，其他的外层电子便会填补这一空位，即所谓的跃迁，同时以发出X射线的形式放出能量。

由于每一种元素的原子能级结构都是特定的，它被激发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的，称之为特征X射线。通过测定特征X射线的能量，便可以确定相应元素的存在，而特征X射线的强弱（或者说X射线光子的）则代表该元素的含量。

镀层厚度分析仪根据测量原理一般有以下五种类型:

1.磁性测厚法

适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为：钢、铁、银、镍。此种方法测量精度高。

2.涡流测厚法

适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种方法较磁性测厚法精度低。

3.超声波测厚法

目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的，国外个别厂家有这样的仪器，适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵，测量精度也不高。

4.电解测厚法

此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要破坏涂镀层。一般精度也不高。测量起来较其他几种麻烦。

5.放射测厚法

此种仪器价格昂贵，适用于一些特殊场合。

x射线镀层测厚仪技术参数及配置

仪器介绍

Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可***定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加*
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护

技术指标

型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

X射线荧光镀层厚度分析仪基本原理