过去2019年度中“ 温度测量和安装实践”一文中讨论了使用RTD和氯乙烷装配式铂电阻进行温度测量,我是经过的功能安全*,*近被问及在安全仪表系统中使用氯乙烷装配式铂电阻的情况,我在许多过程安全相关职位上分享了想法。提出这个问题是因为从资本购买的角度来看,所需的氯乙烷装配式铂电阻数量以及氯乙烷装配式铂电阻和温度变送器之间的价格差异,温度测量是在SIL 2反应堆中进行的。
在某些应用中,假设对直接连接至安全逻辑求解器的炉顶热电偶的二选一(1oo2)表决架构的需求较低,则可以实现大于100(SIL 2范围)的风险降低因子(RRF)。仅当进行外部比较(*在SIS中)以验证温度信号时,才可以这样做。但是,我在文章“ 小心处理:温度传感器需要*知识”中指出:
对于氯乙烷装配式铂电阻,短路将成为与原始氯乙烷装配式铂电阻平行的第二个测量结,这种类型的故障称为不可诊断的危险故障。在安全仪表功能中,危险故障是过2%的测量误差,并且无法通过诊断发现。 氯乙烷装配式铂电阻延长线会随着时间的推移而退化,从而对测量漂移产生不可预测的影响。通常每年漂移10°F(5.5°C)或更高。
尽管可以在安全仪表系统中使用氯乙烷装配式铂电阻,但我们提出了几点不应该采用这种方法的观点。我们引用了《安全仪表系统验证 》及其“精心设计的系统”的概念:
对这样一个系统的简单定义就是遵循我们功能安全标准中介绍的所有防止技术性故障的技术和度量。
如果原始氯乙烷装配式铂电阻未达到SIL等级,则可提供适用于SIL 2应用的SIL等级温度变送器。因此,有系统能力将SIL 0分配给该设计。如果将基本过程控制系统(BPCS)温度控制回路用于DCS控制,则其良好的工程实践将需要在回路上安装温度变送器。过程安全系统也应遵循相同的逻辑。其原因包括准确性、信号鲁棒性、诊断和减少信号上的感应噪声。
氯乙烷装配式铂电阻还存在一个假跳闸率问题,每三年一次,典型的杂散跳变速率目标为50年或更长时间。一连串的反应堆中需要大量的氯乙烷装配式铂电阻,使得的虚假跳闸率变差。即使是一次虚假的跳闸,其成本也可以使氯乙烷装配式铂电阻和温度变送器之间的投资成本相形见war。延长线越长,涉及的端子越多,潜在的不均匀电线、端子、端子腐蚀和电磁场(EMF)干扰杂散拾取的可能性就越大,这是很难发现的。
另外,从生命周期的角度出发,还需要仔细检查氯乙烷装配式铂电阻的使用寿命,并根据确定的使用寿命,定期更换温度元件以确保校准。为了进行验证或验证测试,测试这些设备,标准建议采用管道到管道的方式。虽然便携式温度浴箱可用于短传感器,但不适用于氯乙烷装配式铂电阻。验证过程包括远程双工传感器、连接的电缆和I / O子系统通道。
我们提到了氯乙烷装配式铂电阻中可用的诊断程序,这些诊断可用于降低表决方案,以提高可访问氯乙烷装配式铂电阻的逻辑求解器中反应堆的整体可用性。基于以上几点,为在安全仪表系统中使用氯乙烷装配式铂电阻安装和操作提供有效实践证明。
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