镀层测厚仪,X荧光光谱仪

价格: 电议

更新时间: 2019-06-20 09:24:11

型号:Thick800A

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X光金属镀层测厚仪是针对镀层厚度测量,镀层元素种类及含量的快速无损分析的需求,特别设计该款仪器,其特点可以概括以下几点:1、上照式2、测试组件可升降3、小准直器4、高分辨率探头5、自动定位高度6、测试口安全防护7、良好的射线屏蔽8、超大样品腔设计

产品性能

 

1、小准直器:≤0.1,可以进行小样品测试(小点)的测试,从而提高测试的准确率和精确度。

2、高度激光:自动定位高度,可满足不规则表面样品的测试

3、高分辨率探头:提高分析的准确性。

 

产品配置

 

X光金属镀层测厚仪标准配置为:X射线管,正比计数器半导体探测器,高清摄像头,高度激光,信号检测电子电路。

 

性能指标

 

X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统

空冷式微聚焦型X射线管,Be窗

标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等

X射线管:管电压50KV,管电流1mA 

可测元素:Ti~U 

检测器:正比计数管 

样品观察:CCD摄像头

测定软件:薄膜FP法、检量线法 

Z轴程控移动高度 20mm

 

产品应用

 

X光金属镀层测厚仪主要应用于金属镀层(镀镍、镀锌、镀锡、镀铜、镀铑、镀钯、镀银、镀金、镀铬等)厚度测试,广泛应用于线路板、板材、汽车配件、五金工具、弹簧、电子连接器、五金端子、螺丝、半导体封装材料等产品镀层厚度测量。

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