数字集成电路测试仪 型号：SY-ICT-33B
该机系引进国外大散件组装而成的智能化测试议器，能方便快捷地测试40脚以内的TTL、CMOS、RAM、EOROM、EEPROM、光耦、LED、单片机及微机外围电路；具有好坏判别，型号判别、老化、代换查询、破译及编程等多种功能 编程电压 1.25V、21V、26V 编程速度 9档 适应电源 AC 220V±10% 50HZ±4% 视在功能 15VA 工作环境 5℃-45℃ 外型尺寸 387×260×109mm 重 量 约2.5Kg
其他推荐产品
首页| 关于我们| 联系我们| 友情链接| 广告服务| 会员服务| 付款方式| 意见反馈| 法律声明| 服务条款
会员服务热线：010-62681193
展会合作/友情链接：010-62681114
京公网安备 11010802023672号
该机系引进国外大散件组装而成的智能化测试议器，能方便快捷地测试40脚以内的TTL、CMOS、RAM、EOROM、EEPROM、光耦、LED、单片机及微机外围电路；具有好坏判别，型号判别、老化、代换查询、破译及编程等多种功能
编程电压 1.25V、21V、26V
编程速度 9档
适应电源 AC 220V±10% 50HZ±4%
视在功能 15VA
工作环境 5℃-45℃
外型尺寸 387×260×109mm
重 量 约2.5Kg