揭阳市电子天平外校检测中心-2022已更新

价格
¥155.00

型号
仪表校验

品牌
世通仪器

所在地
广东省 东莞市

更新时间
2022-08-23 16:06:27

浏览次数

     揭阳市电子天平外校检测中心-2022已更新

    世通检测长度实验室主要负责长度计量工作,拥有丰富*工作经验、良好职业技能、敬业爱岗的计量人员。长度室配备了国内*的测长机、大型工具显微镜、二次元、接触式干涉仪、金属线纹尺、光栅式水平仪器,直角尺仪、标准环规、标准球、标准圆柱角尺、标准多面棱体、电脑系统水平仪、百分表千分表仪、大尺寸量块、量块快速检测仪、标准半球等各种仪器计量标准仪器百余种。

    可提供仪器校准、仪器校正、仪器计量及维修服务的仪器设备种类有:

    通用量具类:
    卡尺类、指示表类、千分尺类、角度规、水平仪、测厚仪、比较仪等。

    测绘仪器类:
    工程质量检测尺、水准尺、经纬仪、建筑工程标准器等。

    精测量仪类:
    激光孔径仪、光学计、投影仪、测长仪、显微镜、影像测量仪、二次元、接触式干涉仪、圆度仪、坐标测量机(CMM、三次元)、数控机床、加工中心的检测等。

    量块量规:
    四等及以下量块、步距规、标准针规、标准环规、光滑极限量规、半径样板、螺纹样板等。

    线纹:
    玻璃线纹尺、各种带标尺放大镜、钢直尺、钢卷尺、塑胶皮尺等。

    平面度:
    水平仪、平板、平尺、平晶等。

    粗糙度:
    粗糙度比较样块、粗糙度参数测试等。

    螺纹类:
    各类公制(M)、美标(UN)、日标(J1S )、管螺纹(G)等螺纹规的检测。

    玩具轻工检测类:
    小物件测试圆筒、摇铃测试仪、曲绕测试仪、利边测试仪、尖点测试器、奶嘴测试器、拉力钳、压力头、测试手指等各种测试器。鞋业、纺织、自行车、模具、机加工琴部件等空间高精度尺寸的测量等。

    揭阳市电子天平外校检测中心-2022已更新

    概述

    特点:符合阿贝原理、精度高、使用方便。
    阿贝原理:被测量线应与测量线相重合或在其延长线上。
    外径千分尺的分度值一般为0.01mm和0.001mm,移动量为25mm。
    有测力装置,保持恒定的测量力。
    分类和结构


    数显外径千分尺

    工作原理

    运用螺旋副传动原理,借助测微螺杆与螺母配合,将螺杆的回转运动变为直线运动,从固定套管和微分筒上读出长度尺寸。

    读数

    读数原理:微分筒读数以固定套管的纵刻线为基准线,纵刻线上下有50个分度,每个分度为0.5mm。微分筒圆周刻有50个等分,测微螺杆的螺距为0.5mm, 微分筒旋转一周。微分螺杆移动0.5mm,微分筒旋转一个分度时(1/50转)测微螺杆移动0.01mm。


    校准和技术要求

    按现行有效版本JJG21-2008
    主要校准设备
    3、4等量块(量块)

    平面平晶、平行平晶、刀口尺

    测力仪
    1、外观和各部分相互作用:目力观察和手动试验

    2、测微螺杆的轴向窜动和径向摆动:手感检查

    必要时使用杠杆千分尺检查( 要求≤0.01mm)

     

    3、测力:用分度值不大于0.2N的测力计

    测力应为(5~10)N

    4、微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离:

    用0.4mm的塞尺置于固定套管上比较测量( ≤ 0.4mm )

    5、微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对距离:

    当测量下限调整正确后,读取微分筒的零刻线与固定套管纵 向刻线右边缘的偏移量

    要求:压线≤0.05mm 离线≤0.1mm

    6、测量面的平面度:用平面平晶以技术光波干涉法

    对于后续校准的可用刀口尺以光隙法

    要求: 外径千分尺 ≤0.6um

    壁厚、板厚千分尺 ≤1.5um

    数显外径千分尺≤0.3um

    7、数显外径千分尺的示值重复性:

    在相同条件下重复测量5次分别读数,以*与*小读数差确定

    要求: ≤1um

    8、两测量面的平行度:测量上限至100mm用平行平晶检查,或可用量块检查。

    采用量块时,其4块尺寸差为1/4螺距,每个量块以其同一部位放入下图示的测量面间的4个位置上分别读数,以四组差值中*值来确定。

    揭阳市电子天平外校检测中心-2022已更新

    千分尺示值的*允许误差及两测量面的平行度

    9、示值误差:

    外径(壁厚、板厚)用5等量块,数显用4等量块校准,或用千分尺量块。

    在测量范围内均匀分布5点放入量块直接测量。

    (A+5.12, A+10.24, A+15.36, A+21.50, A+25.00)

    A—测量下限值

    示值误差要求见上表

    10、数显千分尺的细分误差:在任意位置上,沿测量方向转动微分筒,每间隔0.04mm检查一次,共计12次,分别读出各受检点数显值与微分筒读数值之差,以其*差值确定。

    要求≤±2um

    11、校对用量杆(尺寸及变动量):

    外径:在光学计或测长机上用4等量块以比较法

    数显:在光学计或测长机上用3等量块以比较法

    变动量:如图示5点中*与*小尺寸之差

    千分尺校对用量杆的尺寸偏差和变动量

    正确使用和注意事项

    测量前应将测量面及被测件擦试干净,等温2H(20℃±5)
    千分尺的零位调整
    千分尺两测量面与量块接触时,要使用测力装置,不要转动微分筒,以测力装置的棘轮断续响3声读数为准zppjzjc465

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