国产x光镀层测厚仪

价格
电议

型号
800

品牌

所在地
暂无

更新时间
2024-04-18 10:40:15

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    国产x荧光镀层测厚仪产品介绍


    Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。
    满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
    φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
    高精度移动平台可***定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
    采用高度定位激光,可自动定位测试高度
    定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
    鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
    高分辨率探头使分析结果更加*
    良好的射线屏蔽作用
    测试口高度敏感性传感器保护
    X射线镀层膜厚测厚仪指标
    型号:Thick 800A
    元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
    同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
    分析含量一般为ppm到99.9% 。
    镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
    任意多个可选择的分析和识别模型。
    相互独立的基体效应校正模型。
    多变量非线性回收程序
    度适应范围为15℃至30℃。
    电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
    外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
    样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
    重量:90kg

    X射线镀层膜厚测厚仪应用领域
    黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
    金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
    主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。

    电镀是利用电解原理在某些金属表面镀上一薄层其它金属或合金的过程,是利用电解作用使金属或其它材料制件的表面附着一层金属膜的工艺,从而起到防止腐蚀、提高耐磨性、导电性、反光性及增进美观等作用。电镀分为挂镀、滚镀、连续镀和刷镀等方式,主要与待镀件的尺寸和批量有关。
    改革开放以后,电镀工业也进入快速发展时期,大批境外厂家进入长三角、珠三角、渤海湾等地区。十二五期间,电镀技术的应用热点将继续由机械、轻工等行业向电子、钢铁行业扩展转移,由单纯防护性装饰镀层向功能性镀层转移,由相对分散向逐渐整合转移。
     
    X荧光射线无损厚度仪原理
    (1)  X射线荧光法(XRF):镀铬层膜厚分析仪,能量X荧光光谱侧厚法(质量膜厚)
    测试原理:XRF测厚是通过X射线激发各种物质(如Cr,  Mo、Ag、Mn)的特征X射线,然后测量这被释放出来的特征X射线的能量对样品进行进行定性,测量这被释放出来的特征X射线的强度与标准片(或者对比样)对比得出各物质的厚度,这种强度和厚度的对应关系在软件后台形成曲线。而各种物质的强度增加,厚度值也增加,但不是*直线关系;通过标样和软件及算法(算法有FP法和经验系数法)得到一个*接近实际对应关系的曲线
    国产x光镀层测厚仪

    仪器介绍
    镀铬层膜厚分析仪Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。

    应用领域
    铁基----□Fe/Zn, □Fe/Cu,□Fe/Ni,□Fe/Cu/Sn,□Fe/Cu/Au,□Fe/Cu/Ni,         □Fe/Cu/Ni/Cr, □Fe/Cu/Ni/Au,□Fe/Cu/Ni/Ag
    铜基-----□Cu/Ni,□Cu/Ag,□Cu/Au,□Cu/Sn,□Cu/Ni/Sn,□Cu/Ni/Ag,□Cu/Ni/Au,□Cu/Ni/Cr
    锌基-----□Zn/Cu,□Zn/Cu/Ag,□Zn/Cu/Au
    镁铝合金----□Al/Cu,□Al/Ni,□Al/Cu/Ag,□Al/Cu/Au
    塑胶基体----stic/Cu/Ni,stic/Cu/Ni/Cr

     

    应用优势
    1 快速:一般测量一个样品只需要30S~300S,样品可不处理或进行简单处理;
    2   无损:物理测量,不改变样品性质;
    3   准确:对样品可以分析;
    4 直观:直观的分析谱图,元素分布一幕了然,定性分析速度快;
    5   环保:镀铬层膜厚分析仪检测过程中不产生任何废气、废水。

     

    参数规格
    1 分析元素范围:S-U
    2   镀铬层膜厚分析仪可同时可分析多达5层以上镀层
    3 分析厚度检出限达0.005μm
    4 多次测量重复性可达0.01μm
    5   定位精度:0.1mm
    6 测量时间:30s-300s
    7 计数率:1300-8000cps
    8   Z轴升降范围:0-140mm
    9   X/Y平台可移动行程:50mm(W)×50mm(D)

    性能特点
    1  满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求;
    2 φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求;
    3  高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm;
    4  镀铬层膜厚分析仪采用高度定位激光,可自动定位测试高度;
    5  定位激光定位光斑,确保测试点与光斑对齐;
    6  鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点;
    7  高分辨率探头使分析结果更加*;
    8  良好的射线屏蔽作用;
    9  测试口高度敏感性传感器保护;

    国产x光镀层测厚仪

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