镀金层测厚仪

价格
电议

型号
THICK800A

品牌

所在地
暂无

更新时间
2024-03-29 15:26:12

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    镀金层测厚仪产品介绍


    Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。
    满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
    φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
    高精度移动平台可***定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
    采用高度定位激光,可自动定位测试高度
    定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
    鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
    高分辨率探头使分析结果更加*
    良好的射线屏蔽作用
    测试口高度敏感性传感器保护
    X射线镀层膜厚测厚仪指标
    型号:Thick 800A
    元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
    同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
    分析含量一般为ppm到99.9% 。
    镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
    任意多个可选择的分析和识别模型。
    相互独立的基体效应校正模型。
    多变量非线性回收程序
    度适应范围为15℃至30℃。
    电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
    外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
    样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
    重量:90kg

    X射线镀层膜厚测厚仪应用领域
    黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
    金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
    主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。

    天瑞Thick600镀层测厚仪


    Thick600应用优势

    针对表面平整规则样品分析测试;

    可根据样品大小手动更换不同规格准直器;

    配置高分辨率Si-PIN半导体探测器,实现对多镀层样品定量分析;

    内置高清晰摄像头,方便用户观测样品状态;

    手动开关样品腔,操作安全方便。


    镀屋样品测试注意事项

      通过对镀层首先要确认基材和各层镀层金属成分及镀层元素次序,天瑞XRF荧光测厚仪*多可以测6层金属镀层厚度 。

    基材的测定,确定基材中是否含有对镀层元素特征谱线有影响的物质,比如PCB印刷版基材中环氧树脂中的Br 。

    对于底材成分不是纯元素的,并且同标准片底

    镀金层测厚仪

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