XRF-W7能量色散X荧光光谱仪

一、概述

能量色散X荧光光谱仪简称XRF，是一种物理的元素分析方法。近年来XRF主要作为一种快速检测手段在电子、电器、珠宝、玩具、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、医药等行业发挥了很大的作用。XRF具有快速、无损、多种元素同时分析、分析成本低等特殊技术优势。

在环保领域和食品领域，XRF通过直接测试的方法，快速筛选出样品中的有害元素是否出标准。

XRF W7在金属成分检测方法具有优越的测试表现，可以测试铜合金的成分，铁合金的成分，铝合金的成分，测试稳定性和准确率在行业内都比较好。

XRF W7对测试电镀镀层应用广泛，可以测试铁镀锌，铁镀铬，铜镀镍金，铜镀锡，……

另外，XRF在现场分析和过程控制分析等方面的应用很广，例如废旧金属回收，土壤现场检测，在线物料检测等

二、仪器特点

1.工业电脑及仪器一体化集成，运行稳定且外观精美；

省去了插错线的烦恼，不用单独的电脑和显示器占用工作空间；

2.采用真实500万像素摄像头，样品观察清晰，定位准确；

3.采用元素二次强度提取算法，提高了微量元素的检出限；

4.自定义的物料测试完成声音提醒功能，方便操作人员多任务工作；

5.工作指示灯采用流水灯控制模块，操作人员更直观了解仪器状态;

6.软件集成了同一模式多个RoHS限量标准的判断功能;

7.同一软件集成了成分分析和镀层厚度分析;

8.核心配件独立模块设计，避免相互电磁干扰，提高了仪器的检出限，降低了仪器的故障率;

9.多种语言软件版本.

三、设备功能

1.集成数据统计功能，方便品质部门通过筛选统计供应商、物料名称、部件以及通过不同时间段测试状况；

2.提供开放式工作曲线功能，可为用户量身定做*的有害物质检测方法和控制方案；

3.软件开机自检与故障判断功能，保证仪器始终在*工作状态下运行以及出现异常时及时排除；

4.分析数据一键备份还原功能，避免因误操作或其它原因造成的损失，保障数据及系统文件安全；

5.根据用户需求自行定制测试报告输出格式(Excel、PDF和列表等)，符合工厂多种统计要求；

6.具有核心硬件实时温度监控功能，通过热源分析设计与软件实时控制，将硬件的热量及时排出，减少探测器受温度变化而产生的影响；

7.支持大样品测试功能，并有流程指引设计

四、技术参数

1.元素分析范围：从硫S-铀U之间的元素RoHS

限定有害元素Pb/Hg/Cd/Cr/Br卤素/八大重金属等

合金：铜材，铁合金，镍合金，锡合金，钛合金，贵金属

镀层：Ag/Sn/Au/Ni—Cu，Cr/Zn/Ni/Ag/—Fe

2.样品范围:固体、液体、粉末

3.*低检出限:

RoHS：Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm 、Pb≤5ppm、Cl≤60ppm

成分分析：0.01%--99.99%

镀层分析：0.0035um--40um

4、测试时间:60s-200s(软件自动调整)

5.X射线源：X射线光管（无辐射）

6.X光管窗口材料：金属铍窗口

7.X光管适用寿命：大于20000小时

8.探测器：电制冷Si-Pin 探测器（美国进口）

9.*分辨率：145±5eV

10.高压电源：0-50kev，0-2mA

11.高压保护措施：过压自保护，自恢复

12.高清晰摄像定位系统：清晰*

13.集成工业计算机：操作系统：Windows7   无需外接电脑

14.准直器：光斑φ1mm、3mm、4mm(软件自动选择）

15.工作环境温度：温度 temperature:15-30℃

16.工作环境相对湿度：≤85% （不结露 No dew）

17.输入电源：AC 220V±10%，50Hz

18.额定功率：128W

19.仪器尺寸：650mm*450mm*350mm

20.样品腔尺寸:280mm*280mm*200mm

21.重量:约32Kg

22.辐射防护标准:符合GB18871-2002 GBZ115-2002标准