NI SMU - 电性能测试的佳选择|NI 源测量单元

源测量单元(SMU)可同时控制与量测高精度电压、电流，专为消费性电子产品、IC设计与验证、生医、学术研究等实验室提供电性能测试。

      

满足多种仪器功能，提供高精度测试需求

分辨率：100 fA 或 100 nV
取样率：1.8 MS/s
性能：整合高精度供电电源、数字万用表，单一通道同时控制与量测电压、电流
优势：提高量测精度，降低硬件成本。不需复杂接线，透过高速采样率与可程控电源供电，提供相当于示波器、信号发生器、脉冲发生器与电子负载等功能

系统级SMU – 多信道同步、易扩充

传统SMU测试系统，需透过仪器控制才能由PC控制，同步效果不佳、不俱可扩展性和灵活性。NI SMU 使用 PXI 平台，利用 PXI 高速传输低延迟的特性，提升10 倍传输速率。透过PXI 背板与模块达到通道间、机箱间的同步，系统规划扩充方便。

负载响应控制 – 优化DUT测试

NI SMU提供10 μs反应速度，搭配NI SourceAdpat Technology技术，可针对特定负载提供定制化调制，优化DUT测试。