仪器简介： JEM-2100F 应用广泛，从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。 利用200kV场发射透射电镜JEM-2100F，不仅可实现高分辨率图像的观察，同时，还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。 高亮度的场发射电子枪，轻松实现各种分析功能。 JEM-2100F*设计的侧插式侧角台，在倾斜、旋转、加热、制冷时都不会造成机械飘移。 SJEM-2100F可与TEM, MDS, EDS, EELS, and CCD-camera实现一体化控制。