仪器简介： JEM-2100F 应用广泛，从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。 利用200kV场发射透射电镜JEM-2100F，不仅可实现高分辨率图像的观察，同时，还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。 高亮度的场发射电子枪，轻松实现各种分析功能。 JEM-2100F*设计的侧插式侧角台，在倾斜、旋转、加热、制冷时都不会造成机械飘移。 SJEM-2100F可与TEM MDS EDS EELS and CCD-camera实现一体化控制。 技术参数： 1.点分辨率：0.19nm 2.线分辨率：0.14nm 3.加速电压：80 100 120 160 200kV 4.倾斜角：25 5.STEM分辨率：0.20nm 主要特点： 1.高亮度场发射电子枪。 2.束斑尺寸小于0.5nm。 3.新式侧插测角台，更容易倾转、旋转、加热和冷冻，无机械飘移。 4.稳定性好、操作简便。 5.微处理器和PC两套系统控制，防止死机。