方案应用

用于金属、非金属或符合材料表面镀层的分析，是具有成本效益的质量控制工具，可提高生产效率、减少零件浪费，同时减少生产成本。

X射线微区分析技术通过位置精度高的自动样品台和高灵敏度性能，可以对微小物体进行快速扫描和检测，也可对电子基板等符合材料制品的微小特定部位实施定点测量。

创新技术

1. 国际领 先的X射线微聚焦技术，可将测试X光斑缩小至50um，能够对微小镀件测量或同一镀件不同部位镀层厚度，以确定镀层均匀度和厚度分布

2. 高清双路光学辅助摄像系统，轻松确定微小测试区域

3. 定位精度≤0.01mm的全自动X、Y、Z三轴三维测样平台和激光对焦系统，保障了微小区域的对焦，实现对样品进行快速准确测量。

4. 智能分析软件，对样品光学图像进行处理，对检测位进行连续多点自动测量，大尺寸样品自动判断扫描区域，薄膜FP法使镀层、多层膜分析更方便准确。

5. Φ0.05mm，Φ0.5mm，Φ2mm，Φ4mm共4个准直器自动切换，既能满足微小样品的测量，又可实现常规样品的准确测试。

 参数规格

1 分析元素范围：S-U
2 同时可分析多达5层以上镀层
3 分析厚度检出限高达0.005μm
4 多次测量重复性高可达0.01μm
5 定位精度：0.1mm
6 测量时间：30s-300s
7 计数率：1300-8000cps
8 Z轴升降范围：0-140mm
9 X/Y平台可移动行程：50mm(W)×50mm(D)

性能特点
1  满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求；
2 Φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求；
3  高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm；
4 天瑞仪器镀层测厚仪采用高度定位激光，可自动定位测试高度；
5  定位激光定位光斑，确保测试点与光斑对齐；
6  鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点；
7  高分辨率探头使分析结果更加准确；
8  良好的射线屏蔽作用；
9  测试口高度敏感性传感器保护；

应用范围

工业防腐镀层、装饰镀层、电子器件功能镀层、优化机械性能镀层、薄膜分析......