TD8210 是于检测软磁材料直流磁特性的装置,由直流磁化电源及精密测量装置、系统级软件组成。该装置可直接绕线测量软磁环样或其他闭磁路样品的直流磁参量,并绘制相关的磁特性曲线,支持模拟冲击法和扫描法二种方式。参照标准:GB/T 13012-2008、SJ/T 1028191、IEC 60404-4、IEC 60404-7、及ASTM A341、A342 等。
主要应用
被测软磁种类:铁氧体、纯铁、硅钢、镍铁 (坡莫合金) / 钴铁合金、非晶 / 纳米晶合金等。
被测样品形状:环形样品、E 型 / U 型铁芯等闭磁路样品。
主要测量方法:支持模拟冲击法和扫描法二种测量方案。
被测的磁参量:饱和磁通密度 Bs 、剩磁 Br 、矫顽力 Hc、起始磁导率 μi 、大磁导率 μm 等。
绘制磁性曲线:基本磁化曲线、磁滞回线等
功能特点
内置一套的校准程序,及校准接线端钮,可通过高等级的电流表、磁通校准仪对其进行校准。
磁材的磁特性参数可溯源至电磁学基本量以保证测量数据的重复性、一致性、可比性和准确度。
标准样品仅用于测量数据比对,不得用于对本装置进行校准。
装置内置的电子积分器取代传统的冲击检流计,以消除非瞬时性误差。
装置具有样品自动退磁功能;电子积分器零点漂移影响极小。
软件功能强大,可自动保存数据,并可随时查看所有测试参数、曲线/回线及结果。
在扫描法测量时,因电流的动态范围十分宽广 ( 如 1μA ~5 A ),传统设计采用继电器来切换量程以实现电流 (磁场强度H) 的准确测量,在电流扫描过程中触点抖动会引起磁场瞬变,而对磁测数据带来较大误差及磁滞回线不光滑的缺陷。因此,我们对励磁部分进行而精巧的设计来克服这个缺点,实现了在不用继电器来切换量程的情况下确保宽范围的电流连续稳定调节和电流量值的准确测量,使扫描法与冲击法的测量结果保持一致。
系统应用框图
典型磁参量测量的不确定度与重复性(模拟冲击法测环样)
测量条件:试样应为薄壁环,外径/内径 < 1.1;环境温度:( 23 ± 5 )℃
励磁与磁测量指标
一般技术规格
供电电源:AC ( 220 ± 22 ) V,( 50 ± 2 ) Hz
工作环境: 0 ℃ ~40 ℃,20% ~85% R·H
装置尺寸:495 mm × 400 mm × 180 mm(长×宽×高)
装置重量:约 15 kg
通讯接口:RS232
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TD8210 是于检测软磁材料直流磁特性的装置,由直流磁化电源及精密测量装置、系统级软件组成。该装置可直接绕线测量软磁环样或其他闭磁路样品的直流磁参量,并绘制相关的磁特性曲线,支持模拟冲击法和扫描法二种方式。参照标准:GB/T 13012-2008、SJ/T 1028191、IEC 60404-4、IEC 60404-7、及ASTM A341、A342 等。
主要应用
被测软磁种类:铁氧体、纯铁、硅钢、镍铁 (坡莫合金) / 钴铁合金、非晶 / 纳米晶合金等。
被测样品形状:环形样品、E 型 / U 型铁芯等闭磁路样品。
主要测量方法:支持模拟冲击法和扫描法二种测量方案。
被测的磁参量:饱和磁通密度 Bs 、剩磁 Br 、矫顽力 Hc、起始磁导率 μi 、大磁导率 μm 等。
绘制磁性曲线:基本磁化曲线、磁滞回线等
功能特点
内置一套的校准程序,及校准接线端钮,可通过高等级的电流表、磁通校准仪对其进行校准。
磁材的磁特性参数可溯源至电磁学基本量以保证测量数据的重复性、一致性、可比性和准确度。
标准样品仅用于测量数据比对,不得用于对本装置进行校准。
装置内置的电子积分器取代传统的冲击检流计,以消除非瞬时性误差。
装置具有样品自动退磁功能;电子积分器零点漂移影响极小。
软件功能强大,可自动保存数据,并可随时查看所有测试参数、曲线/回线及结果。
在扫描法测量时,因电流的动态范围十分宽广 ( 如 1μA ~5 A ),传统设计采用继电器来切换量程以实现电流 (磁场强度H) 的准确测量,在电流扫描过程中触点抖动会引起磁场瞬变,而对磁测数据带来较大误差及磁滞回线不光滑的缺陷。因此,我们对励磁部分进行而精巧的设计来克服这个缺点,实现了在不用继电器来切换量程的情况下确保宽范围的电流连续稳定调节和电流量值的准确测量,使扫描法与冲击法的测量结果保持一致。
系统应用框图
典型磁参量测量的不确定度与重复性(模拟冲击法测环样)
测量条件:试样应为薄壁环,外径/内径 < 1.1;环境温度:( 23 ± 5 )℃
励磁与磁测量指标
一般技术规格
供电电源:AC ( 220 ± 22 ) V,( 50 ± 2 ) Hz
工作环境: 0 ℃ ~40 ℃,20% ~85% R·H
装置尺寸:495 mm × 400 mm × 180 mm(长×宽×高)
装置重量:约 15 kg
通讯接口:RS232